[发明专利]一种细晶粒碳化硅包覆层的制备方法在审
申请号: | 201811222217.1 | 申请日: | 2018-10-19 |
公开(公告)号: | CN109594060A | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 张锋;林俊;杨旭;李子威;王鹏;朱智勇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海应用物理研究所 |
主分类号: | C23C16/442 | 分类号: | C23C16/442;C23C16/32;C23C16/56;C23C16/26;G21C21/02 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 邓琪;宋丽荣 |
地址: | 201800 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 包覆层 碳化硅 细晶粒 载带 制备 丙烯 氢气 基底 化学气相沉积装置 甲基三氯硅烷 致密 氩气 反应气体 高温退火 碳化硅层 体积分数 氩气环境 引入 硅杂质 混合气 流化床 碳杂质 细晶化 包覆 蒸汽 | ||
本发明涉及一种细晶粒碳化硅包覆层的制备方法,包括如下步骤:S1,提供基底;S2,在流化床化学气相沉积装置中,将温度设定为1150‑1250℃,通入甲基三氯硅烷蒸汽,载带气体为氢气与氩气混合气,得到包覆在基底上的碳化硅层,其中,氢气在载带气体中的体积分数占比为12%‑18%;S3,在氩气环境和1400‑1600℃下高温退火,得到致密的细晶粒碳化硅包覆层。根据本发明的细晶粒碳化硅包覆层的制备方法,不涉及反应气体丙烯,从而避免了现有技术中的丙烯所引入的碳杂质。实际上,本发明通过降低温度并调整载带气体,也不会引入相应的硅杂质,从而得到细晶化的纯相β‑SiC包覆层。
技术领域
本发明涉及核材料制备技术领域,更具体地涉及一种细晶粒碳化硅包覆层的制备方法。
背景技术
包覆燃料颗粒由于其固有的安全性,在超高温气冷堆、熔盐堆、小型模块化反应堆等第四代反应中有广泛的应用前景。包覆燃料颗粒分别由燃料核芯、疏松热解炭层(buffer)、内致密热解碳层(IPyC)、碳化硅层(SiC层)和外致密热解碳层(OPyC)组成。其中SiC层具有耐中子辐照、耐核裂变产物腐蚀、高温热力学性能良好的特性,因此SiC是包覆颗粒的关键结构层。不但用来阻挡裂变气体和金属裂变产物向外扩散,还具有承受载荷的作用,是反应堆安全的第一道屏障。
研究表明:细晶粒的SiC包壳能有效提高其力学性能,显著降低裂变产物Ag扩散和Pd的化学侵蚀。因此针对包覆颗粒,在近几年提出的制备亚微米级晶粒(100nm-1μm)的SiC包壳是最有效最直接提升SiC包壳性能的方法。目前制备细晶粒SiC包覆层的方法通常为在反应气体中加入丙烯,以丙烯高温下裂解产生的碳作为异质形核的方式来降低SiC层的晶粒尺寸。然而,此方法易于在SiC包覆层中引入碳杂质,降低SiC层纯度。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的问题,本发明旨在提供一种细晶粒碳化硅包覆层的制备方法。
本发明所述的细晶粒碳化硅包覆层的制备方法,包括如下步骤:S1,提供基底;S2,在流化床化学气相沉积装置中,将温度设定为1150-1250℃,通入甲基三氯硅烷蒸汽,载带气体为氢气与氩气混合气,得到包覆在基底上的碳化硅层,其中,氢气在载带气体中的体积分数占比为12%-18%;S3,在氩气环境和1400-1600℃下高温退火,得到致密的细晶粒碳化硅包覆层。
其中,碳化硅层的结构受反应温度、载带气体组成和退火温度影响,通过调整工艺参数,可以得到晶粒尺寸小于1微米(例如在150-250nm之间)的细晶化的纯相β-SiC包覆层,即,通过将沉积温度选择为1150-1250℃,同时将氢气在载带气体中的体积分数占比选择为12%-18%,并且将退火温度选择为1400-1600℃,可以获得致密的细晶粒碳化硅包覆层。具体地,本申请通过将沉积温度降低至1150-1250℃,使得原子表面迁移率较低,从而得到晶粒较小的碳化硅;对于温度降低所带来的反应不完全的问题,本申请通过将氢气在载带气体中的体积分数占比选择为12%-18%,利用氢气来抑制反应不完全所产生的SiCl2等硅烷类杂质,从而消除碳化硅层中的硅杂质;对于温度降低所带来的结晶性较差的问题,本申请通过将退火温度选择为1400-1600℃,从而消除晶体中的缺陷,提高结晶性。实际上,本申请的步骤S2中的甲基三氯硅烷在反应生成SiC的过程中,首先分解为CH4,CH3Cl,C2H4等含碳中间产物,SiCl2,SiCl4,HSiCl3等含硅中间产物,这些中间产物再进一步反应生成SiC的分解,通过将氢气在载带气体中的体积分数占比选择为12%-18%,可以影响反应过程中的中间产物的分解,使得反应过程中的含硅中间产物的量降低,从而使得硅杂质无法形成。而且,本申请的步骤S3中的退火温度同样考虑了包覆层的纯度,因为β-SiC在高于1600℃的温度下易转变为α-SiC。
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