[发明专利]图像绘制方法和装置、计算设备及存储介质有效
申请号: | 201811223702.0 | 申请日: | 2018-10-19 |
公开(公告)号: | CN109325992B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 李侃 | 申请(专利权)人: | 珠海金山数字网络科技有限公司;成都西山居世游科技有限公司 |
主分类号: | G06T15/08 | 分类号: | G06T15/08;G06T15/20 |
代理公司: | 北京智信禾专利代理有限公司 11637 | 代理人: | 吴肖肖 |
地址: | 519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇前岛环路325号102室*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 绘制 方法 装置 计算 设备 存储 介质 | ||
本说明书提供一种图像绘制方法和装置、计算设备及存储介质,其中所述方法包括:获取待绘制图像中像素点的真实深度;将所述真实深度和预设阈值进行比较;对所述真实深度小于预设阈值的像素点进行第一投影,得到对应的第一Z值深度,所述第一Z值深度作为所述像素点的Z值深度;对所述真实深度大于预设阈值的像素点进行第二投影,得到对应的第二Z值深度,所述第二Z值深度作为所述像素点的Z值深度,所述真实深度大于预设阈值的像素点在所述第二投影的非线性度小于在所述第一投影的非线性度;根据所述像素点的Z值深度绘制所述像素点。
技术领域
本说明书涉及图像绘制技术领域,特别涉及一种图像绘制方法和装置、计算设备及存储介质。
背景技术
3D渲染中,对待绘制图像中的像素点沿Z轴方向进行投影得到与其真实深度对应的Z值深度,并将同一位置上被测像素点和当前像素点的Z值深度进行比较来确定是否绘制该被测像素点:被测像素点的Z值深度大于当前像素点的Z值深度,则不进行绘制,反之则进行绘制。所有的像素点绘制完成后绘制成对应的图像。
在正交投影中像素点的真实深度和Z值的关系是线性的,但在透视投影中却不是的。参见图1,横座标表示像素点的真实深度,纵坐标表示经过透视座标变换后得到的像素点的Z值深度,在透视投影中这种关系是非线性的。现有技术中采用透视投影对图像像素点沿Z轴方向进行投影,得到对应的Z值深度。
从图1中可以看出,像素点的真实深度的非线性程度和Z值的大小相关,因此,在深度较大的地方可能产生Z-Fighting现象。当两个像素点的深度都较大,且二者的深度较为接近时,二者的Z值就会非常接近,一旦二者的Z值达到Z缓存的精度下限时,在Z缓存中,二者的Z值就会变得完全一致。会导致深度测试的结果不可预测,系统无法判断这两个像素点到底哪个在前,哪个在后,因此显示出来的现象是交错闪烁的前后两个画面。
发明内容
有鉴于此,本说明书实施例提供了一种图像绘制方法和装置、计算设备及存储介质,以解决现有技术中存在的技术缺陷。
根据本说明书实施例的第一方面,提供了一种图像绘制方法,包括:
获取待绘制图像中像素点的真实深度,每个所述像素点的位置信息通过三维坐标来表示,每个所述像素点的深度值通过三维坐标中的Z轴的值来表示;将所述真实深度和预设阈值进行比较;
对所述真实深度小于预设阈值的像素点沿Z轴方向进行第一投影,得到第一Z值深度,所述第一Z值深度作为所述像素点的Z值深度;
对所述真实深度大于预设阈值的像素点沿Z轴方向进行第二投影,得到第二Z值深度,所述第二Z值深度作为所述像素点的Z值深度,所述真实深度大于预设阈值的像素点在所述第二投影的非线性度小于在所述第一投影的非线性度;
根据所述像素点的Z值深度绘制所述像素点。
可选的,对所述真实深度小于预设阈值的像素点沿Z轴方向进行第一投影,包括:
对所述真实深度小于预设阈值的像素点沿Z轴方向采用透视投影法沿Z轴方向进行第一投影。
可选的,对所述真实深度大于预设阈值的像素点沿Z轴方向进行第二投影,包括:
对所述真实深度大于预设阈值的像素点沿Z轴方向采用直线投影法沿Z轴方向进行第二投影。
可选的,对所述真实深度大于预设阈值的像素点沿Z轴方向进行第二投影还包括:
对所述真实深度大于预设阈值的像素点沿Z轴方向采用反向映射法沿Z轴方向进行第二投影。
可选地,所述反向映射法包括:
根据所述第二Z值深度,将所述第二Z值作取反操作实现反向映射。
可选的,根据所述像素点的Z值深度绘制所述像素点,包括:
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