[发明专利]基于XRF的土壤检测装置有效

专利信息
申请号: 201811229418.4 申请日: 2018-10-22
公开(公告)号: CN109358081B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 田芳;龚宏艳;宋健 申请(专利权)人: 苏州泰坤检测技术有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N1/08
代理公司: 苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙) 32312 代理人: 周雅卿
地址: 215400 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 xrf 土壤 检测 装置
【说明书】:

发明公开了一种基于XRF的土壤检测装置,属于检测设备技术领域,包括基座、检测单元、标记单元和电控单元,所述基座设有固定装置,通过所述固定装置将所述基座固定于地面,所述检测单元设于所述支座,所述检测单元包括取样装置和XRF分析仪,所述标记单元设于所述支座,所述标记单元包括滑轨和雕刻机,所述雕刻机安装于所述滑轨,且能够随所述滑轨移动。本发明能够将设备移动至现场测试土壤的各项数值,装置还具有随时固定的功能,极大的增加了装置的机动性,另外,装置还设有标记单元,能够在检测地做出标记,以便于区分记录。

技术领域

本发明属于检测设备技术领域,特别是涉及一种土壤检测装置。

背景技术

XRF全称X Ray Fluorescence(X射线荧光光谱分析),人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光,而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素,现有技术中的XRF分析仪都是固定放置于实验室,使用比较麻烦,或者手持式的分析仪,功能比较单一。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种基于XRF的土壤检测装置,能够将设备移动至现场测试土壤的各项数值,装置还具有随时固定的功能,极大的增加了装置的机动性,另外,装置还设有标记单元,能够在检测地做出标记,以便于区分记录。

为解决上述技术问题,本发明的采用的一个技术方案如下:

一种基于XRF的土壤检测装置,包括基座、设于所述基座的检测单元、标记单元和电控单元;

所述基座包括支座和若干支架,所有所述支架的一端或中部相互铰接,所有所述支架能以散射状排布,所述支座位于所述支架的一侧,所述支架的另一侧且位于所述支架的末端设有固定装置,通过所述固定装置将所述基座固定于地面;

所述检测单元设于所述支座,所述检测单元包括取样装置和XRF分析仪,所述取样装置位于所述支架的与所述固定装置相同的一侧;

所述标记单元设于所述支座,所述标记单元包括滑轨和雕刻机,所述雕刻机安装于所述滑轨,且能够随所述滑轨移动,所述滑轨设有驱动所述滑轨滑动的伺服电机;

所述XRF分析仪、所述雕刻机和所述伺服电机皆电连接至所述电控单元。

进一步地说,所述滑轨为包括X轴和Y轴滑动的两轴滑轨,所述雕刻机通过丝杆安装于所述滑轨,所述丝杆的运动方向为Z轴方向,还设有驱动所述丝杆的伺服电机。

进一步地说,所述伺服电机为微型伺服电机。

进一步地说,其特征在于:所述标记单元能够于所述地面刻出文字和/或二维码标记。

进一步地说,所述支座为圆盘状支座,所述圆盘状支座的中心位于所述支架的铰接点,所述支架与所述支座之间设有锁紧机构,通过所述锁紧机构能够限制所述支架的活动。

进一步地说,所述取样装置包括螺旋头和驱动电机,所述螺旋头包括旋转轴和螺旋叶片,所述旋转轴的前端具有用于钻土的尖头,所述螺旋头的末端穿过并连通至分析室,所述XRF分析仪位于所述分析室内,通过所述螺旋头钻入土层,并通过螺旋结构将泥土传送至所述分析室,所述驱动电机电连接至所述电控单元。

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