[发明专利]一种本振泄漏校正装置和方法

权利要求书

1.一种本振泄漏校正方法，其特征在于，设置有：

本振泄漏检测模块，用于检测本振泄漏的信号强度；

校正算法控制电路，用于实现校正参数的逐次逼近，即在校正模块中分别叠加一个正的方向和负的方向的偏移量，该偏移量将引起本振泄漏信号强度的变化，依据本振泄漏信号强度的变化方向，对校正参数的每个比特位按照逐次逼近算法依次设置，从而获得校正参数；

校正模块，用于将校正算法控制电路的输出值或者校正参数存储模块中的存储值作为发射IQ直流的方向校正值，从而达到对本振泄漏校正的目的，其具有数字接口，于校正时输入“0”信号，该“0”信号的输入受控制于所述校正算法控制电路；

校正参数存储模块；用于存储校正算法最终获得的IQ信号预直流偏置值，当正常发射时，将被自动载入到校正模块中；

所述校正算法控制电路的输出端反馈连接至校正模块；

所述校正模块与校正算法控制电路之间由一反馈开关连接，所述反馈开关在本振泄漏校正时，将自动闭合将本振泄漏信号反馈至校正模块；

所述本振泄露校正方法包括如下步骤：

步骤1，在芯片上电初始化时，打开接收通道，运行接收通道直流校正，以消除接收通道本身的直流对于本振泄漏校正的影响；

步骤2，打开发射通道，此时收发通道处于同时开启状态；通过校正算法控制电路控制反馈开关闭合，同时控制发射通道的数字接口输入为“0”；发射通道的本振泄漏信号通过反馈开关反馈输入到接收通道中，由于发射通道和接收通道的LO信号同源，发射通道的本振泄漏在接收通道中将表现为直流偏移，而接收通道本身的直流偏移已经在步骤1中校正完成，因此，此直流偏移的大小将直接反映本振泄漏的功率大小；

步骤3，通过本振泄漏检测模块检测本振泄漏的功率，并将此本振泄漏的功率作为校正算法控制电路的输入信号；

步骤4，校正算法控制电路中内置有SAR算法控制模块，由SAR算法控制模块在发射通道I、Q路径的校正参数I_COR和Q_COR上依次加载极性相反，幅度相等的偏移量，且偏移量的幅度将按照二次幂的关系逐渐减小，分别记为+2^N-1-k和-2^N-1-k，其中k＝1,2,…,(N-1)，N则代表I_COR和Q_COR的位宽，即比特数；该偏移量将引起P_MEAS的变化，将偏移量为正数时计算所得的P_MEAS记为P+，偏移量为负数时计算所得的P_MEAS记为P-，而(P+-P-)的符号位则作为SAR控制模块的输入，从而控制I_COR和Q_COR的迭代，遍历其所有量化值，最终精确获得I_COR和Q_COR每个比特位的值；

步骤5，校正算法控制电路最终得到的I_COR和Q_COR每个比特位的值存储至存储单元中；

所述SAR算法控制模块进行N比特逐次逼近算法：

初始化时首先将接收机通道本身的直流偏移消除干净，然后将I_COR(0)和k分别初始化为2^N-1和1，并将Q_COR固定为2^N-1；

SAR算法控制模块控制I_COR往正的方向叠加一个偏移量2^N-1-k，记为：

I_COR(k)₊＝I_COR(k-1)+2^N-1-k (1)

该偏移量将引起本振泄漏功率大小的变化，接收机IQ路径上的附加直流偏移也相应变化，在接收机数字模块中对该附加直流偏移加以测量，并进行平方和运算，将此时的P_MEAS记为P_M+，其可表达为：

将P_M+记录并存储下来，然后SAR算法控制模块控制I_COR往负的方向叠加一个相同幅度的偏移量2^N-1-k，记为：

I_COR(k)_-＝I_COR(k-1)-2^N-1-k (3)

同理，对该偏移量引入的附加直流偏移加以测量，并进行平方和运算，将此时的P_MEAS记为其可表达为：

对存储下来的P_M+和进行减法运算，将的符号位作为SAR算法控制模块的输入，如果的符号位为1，即P_M+小于表示I_COR往正的方向偏移，将使得本振泄漏的功率减小，因此设I_COR(k)＝I_COR(k)+，如果的符号位为0，即P_M+大于表示I_COR往负的方向偏移，将使得本振泄漏减小，因此设置I_COR(k)＝I_COR(k)-；然后SAR算法控制模块将控制k＝k+1，并重复以上步骤，直到k＝N-1，I_COR的所有比特位都经SAR算法设置完成，此时将I_COR固定为I_COR(N-1)，并将k重置为1，按照获取I_COR相同的方法，最终也得到Q路径的校正参数Q_COR，将获得的I_COR和Q_COR存储至数字寄存器I_{COR_REG}和Q_{COR_REG}中，断开反馈开关并退出校准模式。