[发明专利]一种通过试烧获取铁氧体生片烧结位置的方法

权利要求书

1.一种通过试烧获取铁氧体生片烧结位置的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

(1)确定窑炉的装烧位置数量，在每个装烧位置上放置装烧板，在每块装烧板上放置铁氧体生片，升温至烧结温度，进行试烧，试烧后得到铁氧体磁片；

(2)通过测量试烧后得到铁氧体磁片的性能，得到每个装烧位置与放置在该装烧位置的铁氧体磁片性能的对应关系；

(3)根据步骤(2)所述的对应关系和烧结得到的铁氧体磁片所需的目标性能，确定铁氧体生片的烧结位置；

其中，步骤(1)中，不同烧结位置上放置的铁氧体生片的批次不同。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，还包括：在每块装烧板上放置测温装置，所述测温装置放置在靠近铁氧体生片的位置。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2)中，还包括：通过测温装置，获取每个装烧位置的温度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测温装置为测温环。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述窑炉为推板炉。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，在每个所述装烧板上划分2-6个装烧位点。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，每个所述装烧板上划分4个装烧位点。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述4个装烧位点在装烧板上2排2列排列。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，当在装烧板上放置测温装置时，测温装置放置在装烧板一侧的装烧位点中，铁氧体生片放置在装烧板上靠近测温装置的另一侧的装烧位点中。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述铁氧体生片堆叠放置。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述铁氧体生片每叠放置11-13层。

12.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述升温为多阶段升温。

13.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述烧结温度为900-1000℃。

14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述烧结温度为940-980℃。

15.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，还包括：在试烧后，进行降温。

16.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述铁氧体生片包括镍锌铁氧体生片、锰锌铁氧体生片或镍铜锌铁氧体生片中的任意一种或至少两种的组合。

17.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2)中，所述试烧后得到铁氧体磁片的性能包括电感值和/或磁导率。

18.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，用电感测试仪测试电感值。

19.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，用阻抗分析仪测试磁导率。

20.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

(1)确定窑炉的装烧位置数量，在每个装烧位置上放置装烧板，在每个所述装烧板上划分4个装烧位点，所述4个装烧位点在装烧板上2排2列排列，在每块装烧板上放置测温环，所述测温环放置在装烧板一侧的装烧位点中，并在同一装烧板靠近测温环的位置放置铁氧体生片，所述铁氧体生片放置在装烧板上靠近测温环的另一侧的装烧位点中，对窑炉进行升温，升温至900-1000℃，进行试烧，试烧后降温，得到铁氧体磁片；

其中，所述铁氧体生片堆叠放置，每叠放置11-13层；

(2)通过测温装置获取每个装烧位点的温度，并测量试烧后得到铁氧体磁片的性能，得到每个装烧位点温度与铁氧体磁片性能的对应关系；

其中，所述性能包括电感值和/或磁导率；

(3)根据步骤(2)所述的对应关系和烧结得到的铁氧体磁片所需的目标性能，确定铁氧体生片的烧结位置。