[发明专利]红外焦平面组件的敏感参数监测方法和装置

权利要求书

1.一种红外焦平面组件的敏感参数监测方法，所述方法包括：

当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示所述红外焦平面组件对提供所述辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测；

当所述红外焦平面组件的上级系统监测到所述红外焦平面组件通过探测得到的探测数据后，从所述上级系统获取所述探测数据；所述上级系统是对所述红外焦平面组件进行控制的原有系统；

根据所述探测数据计算所述红外焦平面组件的敏感参数，当所述探测数据包括像元的电压值、制冷机的电压和电流，所述敏感参数包括像元的电压平均值、均方根噪声电压和制冷机消耗的功率时，根据所述预设帧数和每帧中各所述像元的电压值，获取各所述像元的总电压值，以根据所述总电压值和所述预设帧数，计算所述像元的电压平均值；获取所述电压平均值和所述电压值的偏差值，根据所述预设帧数和所述偏差值计算各像元的均方根噪声电压；根据所述制冷机消耗的电压和电流计算所述制冷机消耗的功率；

保存所述敏感参数，按照预设探测时间间隔，继续执行当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示所述红外焦平面组件对提供所述辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测的步骤。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将面源黑体或辐射率均匀的平板作为辐射源，所述面源黑体或辐射率均匀的平板具有控温功能；

开启所述控温功能以对所述辐射源进行恒定温度的控制,以使得所述辐射源为红外焦平面组件提供的辐照输入符合稳定条件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述探测数据计算所述红外焦平面组件的敏感参数包括：

根据所述探测数据分别确定各个所述探测数据所匹配的计算方式；

按照所述计算方式对各个所述探测数据进行计算；

通过所述计算分别得到所述红外焦平面组件的各个敏感参数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述指示所述红外焦平面组件对提供所述辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测的步骤包括：

指示所述红外焦平面组件的上级系统驱动所述红外焦平面组件，使所述红外焦平面组件对提供所述辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测的步骤。

5.一种红外焦平面组件的敏感参数监测装置，其特征在于，所述装置包括：

辐射源探测模块，用于当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示所述红外焦平面组件对提供所述辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测；

探测数据获取模块，用于当所述红外焦平面组件的上级系统监测到所述红外焦平面组件通过探测得到的探测数据后，从所述上级系统获取所述探测数据；所述上级系统是对所述红外焦平面组件进行控制的原有系统；

敏感参数计算模块，用于根据所述探测数据计算所述红外焦平面组件的敏感参数，包括：当所述探测数据包括像元的电压值、制冷机的电压和电流，所述敏感参数包括像元的电压平均值、均方根噪声电压和制冷机消耗的功率时，根据所述预设帧数和每帧中各所述像元的电压值，获取各所述像元的总电压值，以根据所述总电压值和所述预设帧数，计算所述像元的电压平均值；获取所述电压平均值和所述电压值的偏差值，根据所述预设帧数和所述偏差值计算各像元的均方根噪声电压；根据所述制冷机消耗的电压和电流计算所述制冷机消耗的功率；

敏感参数保存模块，用于保存所述敏感参数，按照预设探测时间间隔，继续执行当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示所述红外焦平面组件对提供所述辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测的步骤。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括辐射源控温模块，用于将面源黑体或辐射率均匀的平板作为辐射源，所述面源黑体或辐射率均匀的平板具有控温功能；开启所述控温功能以对所述辐射源进行恒定温度的控制,以使得所述辐射源为红外焦平面组件提供的辐照输入符合稳定条件。