[发明专利]红外焦平面组件的敏感参数监测方法和装置

说明书

本申请涉及一种红外焦平面组件的敏感参数监测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示红外焦平面组件对提供辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测；当红外焦平面组件的上级系统监测到红外焦平面组件通过探测得到的探测数据后，从上级系统获取探测数据；根据探测数据计算红外焦平面组件的敏感参数；保存敏感参数，继续执行当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示红外焦平面组件对提供辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测的步骤。采用本申请的方案能够实现对红外焦平面组件进行在线的健康状态监测，实用性强。

技术领域

本申请涉及探测技术领域，特别是涉及一种红外焦平面组件的敏感参数监测方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着探测技术的发展，出现了红外焦平面阵列，为了满足红外焦平面阵列所需的低温工作条件，通常将焦平面阵列、真空杜瓦、制冷机等组装在一起，构成一个结构紧凑的组合件，称为红外焦平面组件。然而，想要知道红外焦平面组件的健康状态，需要对红外焦平面组件的一些特定数据进行分析来实现。

传统的红外焦平面组件数据监测方法，是通过专业的红外焦平面测试设备(包括光学平台、驱动及数据采集分系统、黑体源、计算机及数据处理软件)，在离线状态下，利用红外焦平面测试系统对焦平面组件进行双温法测试，获得其性能参数。然而，传统的技术方案的测试设备体积过于庞大，难以对红外焦平面组件进行在线的健康状态监测。

发明内容

基于此，有必要针对上述因测试设备体积庞大导致难以对红外焦平面组件进行在线的健康状态监测的问题，提供一种红外焦平面组件的敏感参数监测方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种红外焦平面组件的敏感参数监测方法，所述方法包括：

当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示红外焦平面组件对提供辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测；

当红外焦平面组件的上级系统监测到红外焦平面组件通过探测得到的探测数据后，从上级系统获取探测数据；

根据探测数据计算红外焦平面组件的敏感参数；

保存敏感参数，继续执行当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示红外焦平面组件对提供辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测的步骤。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

将面源黑体或辐射率均匀的平板作为辐射源，面源黑体或辐射率均匀的平板具有控温功能；

开启控温功能以对辐射源进行恒定温度的控制,以使得辐射目标为红外焦平面组件提供的辐照输入符合稳定条件。

在其中一个实施例中，根据探测数据计算红外焦平面组件的敏感参数包括：

根据探测数据分别确定各个探测数据所匹配的计算方式；

按照计算方式对各个探测数据进行计算；

通过计算分别得到红外焦平面组件的各个敏感参数。

在其中一个实施例中，当探测数据包括像元的电压值、制冷机的电压和电流，敏感参数包括像元的电压平均值、均方根噪声电压和制冷机消耗的功率时，根据探测数据计算红外焦平面组件的敏感参数包括：

根据预设帧数和每帧中各像元的电压值，获取各像元的总电压值，以根据总电压值和预设帧数，计算像元的电压平均值；

获取电压平均值和电压值的偏差值，根据预设帧数和偏差值计算各像元的均方根噪声电压；

根据制冷机消耗的电压和电流计算制冷机消耗的功率。