[发明专利]一种多枚内存条并行应用性能测试装置在审

专利信息
申请号: 201811263466.5 申请日: 2018-10-28
公开(公告)号: CN111104268A 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 包增利 申请(专利权)人: 海太半导体(无锡)有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 代理人: 赵华
地址: 214000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 内存条 并行 应用 性能 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种多枚内存条并行应用性能测试装置,其特征在于,包括主板(1)、中央处理器(2)、供电电源(3)、存储数据单元(4)、结构支架和固定内存治具(6),所述结构支架上水平设置有主板(1),对应所述主板(1)上的内存条卡槽(5)在主板(1)上安装有固定内存治具(6),所述主板(1)的一侧连接在安装在结构支架上的供电电源(3)上,所述主板(1)上安装有中央处理器(2)并与内存条卡槽(5)电连接,所述主板(1)上安装的存储数据单元(4)与内存条卡槽(5)电连接,所述主板(1)与测试架构单元和数据交汇单元进行数据交互。

2.根据权利要求1所述的多枚内存条并行应用性能测试装置,其特征在于:所述结构支架包括支架底板(7)、主板支撑杆(8)、卡槽支架(9)、电源支架(10)和转接部件(11),所述主板支撑杆(8)和卡槽支架(9)分别对应主板(1)和内存条卡槽(5)的位置安装在支架底板(7)上,所述电源支架(10)固定在支架底板(7)上,所述电源支架(10)上安装有供电电源(3),所述转接部件(11)安装在支架底板(7)的一侧边上。

3.根据权利要求2所述的多枚内存条并行应用性能测试装置,其特征在于:所述主板(1)与结构支架之间设置有主板支撑杆(8),多个所述主板支撑杆(8)分别设置有在结构支架的四周侧边上。

4.根据权利要求3所述的多枚内存条并行应用性能测试装置,其特征在于:在所述电源支架(10)的一侧安装有电源接口保护底座(12),所述电源接口保护底座(12)设置在靠近卡槽支架(9)的一侧。

5.根据权利要求4所述的多枚内存条并行应用性能测试装置,其特征在于:所述固定内存治具(6)包括固定板(61)和插拔装置(62),在固定板(61)的两侧分别安装有插拔装置(62),在固定板(61)的中心处设置有一对插拔装置(62)。

6.根据权利要求5所述的多枚内存条并行应用性能测试装置,其特征在于:所述每个所述插拔装置(62)内至少设置有三个插口,所述插拔装置(62)设置有四组。

7.根据权利要求6所述的多枚内存条并行应用性能测试装置,其特征在于:所述存储数据单元(4)设置有两个,每个所述所述存储数据单元(4)设置在相邻的一对插拔装置(62)之间。

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