[发明专利]一种多枚内存条并行应用性能测试装置

说明书

本发明提供一种多枚内存条并行应用性能测试装置，包括主板、中央处理器、供电电源、存储数据单元、结构支架和固定内存治具，结构支架上水平设置有主板，对应主板上的内存条卡槽在主板上安装有固定内存治具，主板的一侧连接在安装在结构支架上的供电电源上，主板上安装有中央处理器并与内存条卡槽电连接，主板上安装的存储数据单元与内存条卡槽电连接，主板与测试架构单元和数据交汇单元进行数据交互。本发明实现一台功能性测试设备一次测试多枚内存，达到相同的设备测试更多的产品，提高人员效率，减少空间及搬运浪费，提高生产效率。

技术领域

本发明主要涉及内存测试领域，尤其涉及一种多枚内存条并行应用性能测试装置。

背景技术

由于内存产品市场竞争日益激烈，现有测试设备单台最多一次性测试4枚内存，导致测试效率低下，且存在多种缺点：

当前单台设备测一次测试内存数量较少，导致设备利用率低下；为了满足产量需要，增设大量设备，投资较多，同时占用较多的产线空间；在测试生产过程中，操作人员需要移动较远的距离频繁的操作设备，导致生产人力浪费；产品在测试过程中移动距离较远，不仅影响作业效率，而且存在搬运风险，造成产品质量问题。

已公开中国发明专利，申请号CN201110292899.5，专利名称：内存条参数的测试方法及其测试设备，申请日：20111006，本发明涉及一种内存条电源性能参数的测试设备与测试方法。测试设备包括主电路板、连接器与测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试待测试的内存条的电源性能参数。该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该内存条的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该内存条对应该至少一第一电源端的电源性能参数。

发明内容

本发明提供一种多枚内存条并行应用性能测试装置，针对现有技术的上述缺陷，提供一种多枚内存条并行应用性能测试装置，包括主板1、中央处理器2、供电电源3、存储数据单元4、结构支架和固定内存治具6，所述结构支架上水平设置有主板1，对应所述主板1上的内存条卡槽5在主板1上安装有固定内存治具6，所述主板1的一侧连接在安装在结构支架上的供电电源3上，所述主板1上安装有中央处理器2并与内存条卡槽5电连接，所述主板1上安装的存储数据单元4与内存条卡槽5电连接，所述主板1与测试架构单元和数据交汇单元进行数据交互。

优选的，结构支架包括支架底板7、主板支撑杆8、卡槽支架9、电源支架10和转接部件11，所述主板支撑杆8和卡槽支架9分别对应主板1和内存条卡槽5的位置安装在支架底板7上，所述电源支架10固定在支架底板7上，所述电源支架10上安装有供电电源3，所述转接部件11安装在支架底板7的一侧边上。

优选的，主板1与结构支架之间设置有主板支撑杆8，多个所述主板支撑杆8分别设置有在结构支架的四周侧边上。

优选的，在所述电源支架10的一侧安装有电源接口保护底座12，所述电源接口保护底座12设置在靠近卡槽支架9的一侧。

优选的，固定内存治具6包括固定板61和插拔装置62，在固定板61的两侧分别安装有插拔装置62，在固定板61的中心处设置有一对插拔装置62。

优选的，每个所述插拔装置62内至少设置有三个插口，所述插拔装置62设置有四组。

优选的，所述存储数据单元4设置有两个，每个所述所述存储数据单元4设置在相邻的一对插拔装置62之间。

本发明的有益效果：实现一台功能性测试设备一次测试多枚内存，达到相同的设备测试更多的产品，提高人员效率，减少空间及搬运浪费，提高生产效率。

附图说明

图1为本发明的结构图；

图2为本发明中关于结构支架的结构图；