[发明专利]一种荧光碳纳米颗粒及检测Ni2+ 有效
申请号: | 201811264470.3 | 申请日: | 2018-10-29 |
公开(公告)号: | CN109406472B | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 沈腊珍;宋金萍;马琦;刘慧君;郭永;冯锋 | 申请(专利权)人: | 太原师范学院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 太原倍智知识产权代理事务所(普通合伙) 14111 | 代理人: | 张宏 |
地址: | 030619 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 荧光 纳米 颗粒 检测 ni base sup | ||
1.一种荧光碳纳米颗粒,其特征在于:将甲脒亚磺酸加入到乙二醇中,室温超声溶解,将得到的混合溶液转移到高压反应釜中,在200-250℃下加热反应2-3小时,反应结束后自然冷却至室温并加入超纯水,然后离心除去大的颗粒,随后以分子截留量1000的透析袋透析,所得水溶液通过旋转蒸发除去水分后得到所述的荧光碳纳米颗粒,将上述荧光碳纳米颗粒重新分散在超纯水中,保存备用。
2.权利要求1所述的荧光碳纳米颗粒在分析检测Ni2+离子和甘氨酸含量中的应用。
3.一种检测Ni2+离子的方法,其特征在于,包括步骤:
(1)配制不同浓度的Ni2+离子溶液;
(2)将具有不同浓度的Ni2+离子溶液加入到2.5 mL 含有10 μg/mL权利要求1所述荧光碳纳米颗粒的B-R缓冲溶液中配制成混合溶液,该混合溶液pH =10-12,室温反应完成后,在320 nm激发条件下测量其荧光光谱,绘制荧光强度比F0/F与镍离子浓度标准曲线;F0是不存在Ni2+离子时的荧光强度,F是存在Ni2+离子时的荧光强度;
(3)取权利要求1所述荧光碳纳米颗粒配制的溶液、含有Ni2+离子的待测样品溶液和B-R缓冲溶液配制成混合溶液,该混合溶液pH =10-12,用荧光分光光度计测定395 nm处的荧光强度,并根据步骤(2)所述的标准曲线计算Ni2+离子的浓度;
在Hg2+离子存在的体系中加入乙二胺以消除Hg2+离子干扰;在Ag+离子存在的体系中加入巯基乙酸铵以消除Ag+离子的干扰。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于:步骤(2)和步骤(3)中所述的混合溶液的pH=11。
5.一种检测甘氨酸的方法,其特征在于,包括步骤:
(1)配制不同浓度的Ni2+离子溶液;
(2)将具有不同浓度的甘氨酸溶液加入到2.5 mL 同时含有10 μg/mL权利要求1所述荧光碳纳米颗粒和50 μM Ni2+离子的B-R缓冲溶液中配制成混合溶液,该混合溶液pH =10-12,室温反应完成后,在320 nm激发条件下测量其荧光光谱,绘制荧光强度比F/F0 与甘氨酸浓度标准曲线;F0是不存在甘氨酸时的荧光强度,F是存在甘氨酸时的荧光强度;
(3)取权利要求1所述荧光碳纳米颗粒配制的溶液、Ni2+离子标准溶液、含有甘氨酸的待测样品溶液和B-R缓冲溶液配制成混合溶液,该混合溶液的pH=10-12,用荧光分光光度计测定395 nm处的荧光强度,并根据所述的标准曲线计算甘氨酸的浓度;
在Hg2+离子存在的体系中加入乙二胺以消除Hg2+离子干扰;在Ag+离子存在的体系中加入巯基乙酸铵以消除Ag+离子的干扰。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于:步骤(2)和步骤(3)中所述的混合溶液的pH=11。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于:步骤(3)中,混合溶液中Ni2+离子浓度为50μM。
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