[发明专利]一种测试方法及装置

说明书

本申请实施例提供了一种测试方法及装置，涉及测试技术领域，其中，上述方法包括：确定对以Flash颗粒为存储介质的存储设备进行测试的测试点，其中，所述测试点包括：用于构建测试环境的第一类参数、用于描述测试目的的第二类参数、所述第一类参数的取值和所述第二类参数的取值；按照所述第一类参数的取值对所述存储设备进行第一类参数所指示的操作，进而构建所述测试点对应的测试环境；按照所述第二类参数的取值对所述存储设备进行第二类参数所指示的操作；读取所述存储设备的各个存储单元的阈值电压，得到所述存储设备针对所述测试点的测试结果。应用本申请实施例提供的方案，能够实现对以Flash颗粒为存储介质的存储设备的测试。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试方法及装置。

背景技术

随着硬件技术的快速发展，以Flash颗粒作为存储介质的存储设备得到了越来越广泛的应用。下面以SSD(Solid State Disk，固态硬盘)为例进行说明。

SSD是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储介质组成。SSD的接口规范和定义、功能及使用方法与普通硬盘完全相同，在产品外形和尺寸上也与普通硬盘一致。目前，SSD已被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、网络监控、网络终端、电力、医疗、航空等领域。可以看出，SSD的应用范围已非常广泛，因此为保障使用SSD过程中，从SSD中所读取的数据准确，在生产过程中对SSD进行严格的测试。

鉴于上述情况，需要提供一种对以Flash颗粒作为存储介质的存储设备进行测试的方法。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种测试方法及装置，以实现对以Flash颗粒为存储介质的存储设备进行测试。具体技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种测试方法，所述方法包括：

确定对以Flash颗粒为存储介质的存储设备进行测试的测试点，其中，所述测试点包括：用于构建测试环境的第一类参数、用于描述测试目的的第二类参数、所述第一类参数的取值和所述第二类参数的取值；

按照所述第一类参数的取值对所述存储设备进行所述第一类参数所指示的操作，进而构建所述测试点对应的测试环境；

按照所述第二类参数的取值对所述存储设备进行所述第二类参数所指示的操作；

读取所述存储设备的Flash颗粒中各个存储单元的阈值电压，得到所述存储设备针对所述测试点的测试结果。

第二方面，本申请实施例提供了一种测试装置，所述装置包括：

测试点确定模块，用于确定对以Flash颗粒为存储介质的存储设备进行测试的测试点，其中，所述测试点包括：用于构建测试环境的第一类参数、用于描述测试目的的第二类参数、所述第一类参数的取值和所述第二类参数的取值；

第一存储设备操作模块，用于按照所述第一类参数的取值对所述存储设备进行所述第一类参数所指示的操作，进而构建所述测试点对应的测试环境；

第二存储设备操作模块，用于按照所述第二类参数的取值对所述存储设备进行所述第二类参数所指示的操作；

电压读取模块，用于读取所述存储设备的Flash颗粒中各个存储单元的阈值电压，得到所述存储设备针对所述测试点的测试结果。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括处理器和机器可读存储介质，所述机器可读存储介质存储有能够被所述处理器执行的机器可执行指令，所述处理器被所述机器可执行指令促使：实现本申请实施例所述的方法步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种机器可读存储介质，存储有机器可执行指令，在被处理器调用和执行时，所述机器可执行指令促使所述处理器：实现本申请实施例所述的方法步骤。