[发明专利]一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法

权利要求书

1.一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，包括：模拟IC测试机台、测试夹具、示波器、数字IO板卡，待测IC芯片放置于测试夹具中；模拟IC测试机台与测试夹具双向连接，测试夹具的波形输出端与示波器连接，示波器的trigger输出端与数字IO板卡连接，数字IO板卡输出端与模拟IC测试机台连接；

所述一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统使用时还包括以下步骤：

将待测IC芯片放置于测试夹具中，模拟IC测试机台根据包括至少一个测试脚本模块的测试脚本组对待测IC芯片的性能指标进行测试；

示波器运行在连续触发模式，采集测试夹具输出的信号，当其采集到的数据超过设定的触发门限的信号时，输出一个trigger信号至数字IO板卡；

数字IO板卡接受来自示波器的trigger信号，自动统计出现异常过冲的次数并将此数据发送到模拟IC测试机台；

模拟IC测试机台自动生成报告，统计测试脚本组发生异常过冲次数。

2.根据权利要求1中所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述模拟IC测试机台通过排线与测试夹具双向连接，即模拟IC测试机台与待测IC芯片双向连接。

3.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述数字IO板卡输入端通过ch0通道与示波器AUX输出端连接。

4.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述测试夹具输出端通过探头与示波器连接，即待测IC芯片的相应引脚输出端通过探头与示波器连接。

5.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述数字IO板卡输出端通过USB电缆与模拟IC测试机台连接。

6.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述系统使用时还包括以下步骤：

对数字IO板卡的功能进行封装，测试脚本组通过函数的方式对相应的功能进行调用，其中，封装的函数包括：（1）Device- Start()，代表开始启用数字IO板卡计数器功能，统计接收的过冲信号次数；（2）Device- Check Value()，检测当前位置总共发生过多少次过冲以及前一次检测代码处和当前检测处之间发生过多少次异常过冲；（3）Device- Stop()；停止数字IO板卡的计数功能，释放资源；

修改测试脚本组，在测试脚本组的开始位置插入Device- Start()封装函数，在测试脚本组的结束位置插入Device- Stop()封装函数，并在测试脚本模块的后方插入Device-Check Value()封装函数。

7.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述测试脚本组测试的是待测IC芯片引脚的电流参数和电压参数。

8.根据权利要求1所述的一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，所述报告是log文件、excel文件的任意一种。