[发明专利]一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法

说明书

本发明公开了一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法，属于IC测试领域，系统包括：模拟IC测试机台、测试夹具、示波器、数字IO板卡，所述测试夹具中放置有待测IC芯片；模拟IC测试机台与测试夹具双向连接，测试夹具的波形输出端与示波器连接，示波器的trigger输出端与数字IO板卡连接，数字IO板卡输出端与模拟IC测试机台连接，构成一个可快速定位芯片发生异常过冲位置的系统。本发明能够克服现有技术中无法统计待测芯片发生异常过冲的总次数，并能够快速定位待测IC芯片发生异常过冲的位置，大大提升了IC芯片测试效率，节约了时间和人力成本。

技术领域

本发明涉及IC测试领域，尤其涉及一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法。

背景技术

模拟IC测试过程中，测试工程师通常借助示波器观测芯片引脚产生的异常过冲现象。但是，当前测试工程师在模拟IC测试过程中，由于测试脚本组的运行速度很快，单行指令的运行时间为ns级，示波器需设置为单次扫描状态，只能被触发一次、准确捕获当前的波形。因此，测试工程师通过此调试手段只可知道是否发生异常过冲，而不能评估发生过多少次，更不能知道是测试脚本组运行至何处时发生的异常过冲。测试脚本组运行过程中，测试工程师需单步运行相应的测试脚本组，以此定位是那些参数设置导致的过冲现象。

随着芯片设计越来越复杂，芯片具有越来越多的测试引脚，待测测试项也越来越多，导致测试脚本组变得复杂。综合以上因素，测试工程师需耗费大量时间调试测试脚本组，解决异常过冲问题。因此，如何快速定位异常过冲发生的位置对解决测试效率具有越来越重要的现实意义。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中无法快速定位IC芯片产生异常过冲位置且无法统计IC芯片发生异常过冲次数的问题而造成的人力和时间成本的浪费，提供一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统包括：

模拟IC测试机台、测试夹具、示波器、数字IO板卡，待测IC芯片放置于测试夹具中；模拟IC测试机台与测试夹具双向连接，测试夹具的波形输出端与示波器连接，示波器的trigger输出端与数字IO板卡连接，数字IO板卡输出端与模拟IC测试机台连接，构成了一个可快速定位芯片发生异常过冲位置的系统。

具体地，模拟IC测试机台通过排线与测试夹具双向连接，且待测IC芯片放置于测试夹具中，即模拟IC测试机台与待测IC芯片的双向连接，模拟测试机台向待测试的IC测试芯片发送控制信号，待测IC测试芯片向模拟IC测试机台反馈芯片每个引脚的的信号变化。

具体地，数字IO板卡输入端通过ch0通道与示波器AUX输出端连接，用于接受示波器输出的trigger信号。

具体地，测试夹具输出端通过探头与示波器连接，即待测芯片的相应引脚输出端通过探头与示波器连接，用于观测在测试脚本组运行过程中相应引脚信号的波形变化。

具体地，示波器运行在连续触发模式，用于检测多个异常过冲信号，能够实时反馈是测试脚本运行在何处发生了异常过冲。

具体地，数字IO板卡输出端通过USB电缆与模拟IC自动化测试机台连接，数字IO板卡将统计的IC测试芯片发生异常过冲的次数传输到模拟IC测试机台。

本发明还包括基于一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统的方法，方法包括以下步骤：

将待测IC芯片放置于测试夹具中，模拟IC自动化测试机台根据包括至少一个测试脚本模块的测试脚本组对待测IC芯片的性能指标进行测试；

示波器运行在连续触发模式，采集测试夹具输出的信号，当其采集到的数据超过设定的触发门限的信号时，输出一个trigger信号至数字IO板卡；