[发明专利]一种质量检测装置、方法、系统及一体式探针组件在审

专利信息
申请号: 201811302670.3 申请日: 2018-11-02
公开(公告)号: CN109596677A 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 汪圣林;刘昊;胡大昌;胡勇;雷鹏飞;刘继国;徐作斌;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司
主分类号: G01N27/20 分类号: G01N27/20;G01N27/04
代理公司: 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 代理人: 陈琳
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 探针组件 质量检测装置 成对设置 采集端 驱动端 探针组 采集模块 匹配设置 驱动模块 质量检测 焊缝 焊接质量检测 质量检测系统 快速检测 焊接 配合
【权利要求书】:

1.一种质量检测装置,其特征在于:所述质量检测装置包括集成探针组、驱动模块以及采集模块,所述集成探针组包括多个成对设置且由一驱动端和一采集端构成的一体式探针组件,且所述一体式探针组件的驱动端与另一成对设置的一体式探针组件的驱动端匹配设置,以及所述一体式探针组件的采集端与另一成对设置的体式探针组件的采集端匹配设置,所述驱动模块释放电流以通过匹配的驱动端与所抵触的导体形成电流回路,所述采集模块获取匹配的采集端所抵触的导体中所形成电流回路区域的电阻值。

2.根据权利要求1所述的质量检测装置,其特征在于:多个所述一体式探针组件成两排设置,一排中的一体式探针组件与另一排的一体式探针组件成对设置。

3.根据权利要求1所述的质量检测装置,其特征在于:所述一体式探针组件包括设置在外部的第一探针和设置在内部的第二探针,所述第一探针的端面和第二探针的端面在一体式探针组件抵触在导体时齐平设置;其中,所述第一探针为驱动端和采集端的一种,所述第二探针为驱动端和采集端的另一种。

4.根据权利要求3所述的质量检测装置,其特征在于:所述第一探针设置有端部凹槽,所述第二探针设置在端部凹槽中。

5.根据权利要求3所述的质量检测装置,其特征在于:所述第一探针成环形管状结构,所述第二探针设置在第一探针的中空结构中。

6.根据权利要求3至5任一所述的质量检测装置,其特征在于:所述一体式探针组件还包括一弹性件,所述弹性件设置在第二探针的底部,并在外力的带动下使第二探针在第一探针的端面水平位置处伸缩移动;或者,所述弹性件设置在第一探针的底部,并在外力的带动下使第一探针在第二探针的端面水平位置处伸缩移动。

7.根据权利要求1至5任一所述的质量检测装置,其特征在于:所述一体式探针组件还包括设置在底部处的延伸端,所述延伸端包裹分别与驱动端和驱动模块电连接的第一连接线,以及分别与采集端和采集模块电连接的第二连接线。

8.根据权利要求1所述的质量检测装置,其特征在于:所述质量检测装置还包括具有多个切换模块的集成电路,匹配设置的所述驱动端和采集端通过一切换模块分别接入驱动模块和采集模块中,所述集成电路依序开启一切换模块并使驱动模块释放电流以通过匹配的驱动端与所抵触的导体形成电流回路,以及使采集模块获取匹配的采集端所抵触的导体中所形成电流回路区域的电阻值。

9.根据权利要求8所述的质量检测装置,其特征在于:所述集成电路包括用于传输数据的PLC模块和构成切换模块的继电器,所述PLC模块分别与驱动模块、采集模块和多个继电器连接,每一所述继电器均与成对设置的两驱动端和两采集端连接。

10.根据权利要求1、8或9所述的质量检测装置,其特征在于:所述驱动模块和采集模块集成设置为一微电阻计,所述微电阻计包括用于输出电流且与驱动模块连接的驱动系统,以及包括用于采集电信息且与采集模块连接的采集系统。

11.一种基于焊缝的质量检测方法,其特征在于:所述质量检测方法通过如权利要求1-10任一所述的质量检测装置实现,其步骤包括:

将成对一体式探针组件分别抵触在导体上的焊缝两侧;

释放电流以通过匹配的驱动端与所抵触的导体形成电流回路;

获取匹配的采集端所抵触的导体中所形成电流回路区域的电信息,形成多个扫描通道;

将采集的电信息转化为电阻值并获取焊缝的质量。

12.根据权利要求11所述的质量检测方法,其特征在于:所述质量检测方法的步骤还包括:

通过采集端采集对应电流回路区域的电压值,并根据通电的电流值获取对应位置的电阻值;

判断电阻值是否有异常,若正常则认为焊缝合格,反之则认为焊缝存在瑕疵。

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