[发明专利]含钚微粒年龄的测定方法有效

专利信息
申请号: 201811305260.4 申请日: 2018-11-05
公开(公告)号: CN109342641B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 王琛;朱留超;黄声慧;潘竟舜;孙宏清;常志远;刘国荣;李力力;赵永刚 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01N31/00 分类号: G01N31/00
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地址: 102413 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 微粒 年龄 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种含钚微粒年龄的测定方法,其特征在于该方法包括以下步骤:

步骤一:将含钚微粒样品置入硫酸氢钠中熔融,冷却后以硝酸溶解,得到含钚溶液;

步骤二:向所述含钚溶液中加入定量的242Pu稀释剂和243Am稀释剂,然后对钚和镅进行分离及纯化,得到钚组分和镅组分;

步骤三:测量钚组分中239Pu、240Pu与242Pu的同位素比、238Pu与242Pu的活度比、241Pu与钚元素的活度比,进而获得钚组分中241Pu与242Pu的同位素比,以242Pu稀释剂中242Pu含量代替钚组分中242Pu含量,计算241Pu质量;

步骤四:测量镅组分中241Am与243Am的同位素比,以243Am稀释剂中243Am含量以及241Am与243Am的同位素比计算241Am质量;

步骤五:分别测量241Am与243Am的活度比、241Pu与钚元素的活度比、238Pu与242Pu的活度比;

步骤六:通过下述公式计算含钚微粒年龄,

式中,t为含钚微粒年龄,m243Am243Am质量,m242Pu242Pu质量,λ243Am243Am的衰变常数,λ241Am241Am的衰变常数,λ242Pu242Pu的衰变常数,λ241Pu241Pu的衰变常数,λ239Pu239Pu的衰变常数,λ240Pu240Pu的衰变常数,为241Am与243Am的活度比,为241Pu与钚元素的活度比,为238Pu与242Pu的活度比,RR239Pu/242Pu为质谱239Pu/242Pu校正值,RR240Pu/242Pu为质谱240Pu/242Pu校正值。

2.根据权利要求1所述的含钚微粒年龄的测定方法,其特征在于:步骤一中,所述含钚微粒样品采用α径迹法选取得到。

3.根据权利要求1所述的含钚微粒年龄的测定方法,其特征在于:步骤二中,钚的分离及纯化采用TEVA树脂。

4.根据权利要求1所述的含钚微粒年龄的测定方法,其特征在于:步骤二中,镅的分离及纯化采用TRU树脂。

5.根据权利要求1-4任一项所述的含钚微粒年龄的测定方法,其特征在于:步骤三中,所述钚组分中239Pu、240Pu与242Pu的同位素比采用低本底液闪法、低本底α能谱法及MC-ICP-MS联合进行测量。

6.根据权利要求1-4任一项所述的含钚微粒年龄的测定方法,其特征在于:步骤四中,所述镅组分中241Am与243Am的同位素比采用低本底α能谱法进行测量。

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