[发明专利]显示屏的校正优化方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提出一种显示屏的校正优化方法、装置、电子设备及存储介质，属于电子技术领域。其中，该方法包括：控制显示屏进入基准模式；在基准模式下对显示屏进行校正以生成基准校正值；获取显示屏参考模式对应的偏移校正值；以及根据基准校正值和参考模式对应的偏移校正值获取参考模式对应的校正值。由此，通过这种显示屏的校正优化方法，不仅减少了进行校正的次数，提高了校正效率和产能，而且保证了显示屏的显示画质与光学效果，改善了用户体验。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种显示屏的校正优化方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

有源矩阵有机发光二极体(Active-matrix organic light-emitting diode，简称AMOLED)是一种应用于电视和移动设备中的显示技术。AMOLED以其功耗低、响应速度快、宽视角、能实现高分辨率显示、宽温度特性、成本低、高亮度、高对比度、质量轻、易于实现全彩色和柔性显示等优点，广泛应用于显示技术领域。同时也在平板显示技术领域中受到了广泛的关注，被认为是最有可能取代液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)的显示器件。

作为新一代的显示技术，传统的AMOLED的制备技术还不够成熟，呈现多样化。为保证AMOLED显示屏在低亮度、低灰阶时的显示效果，需要对AMOLED显示屏的伽马值进行校正。申请人发现，目前主流的伽马校正方式有两种，一种是只对显示屏常规显示模式时的伽马值进行校正，其他显示模式直接使用在常规显示模式中的校正结果，这种校正方式会造成画面显示时的色坐标和亮度超出预设范围，即画质异常。另一种方式是在显示屏的多种显示模式中分别进行伽马校正，从而改善显示屏在各种显示模式下的画面显示效果，但由于进行了多组伽马校正，因此会大幅增加伽马校正的单件工时，降低了产能。

发明内容

本申请提出的显示屏的校正优化方法、装置、电子设备及存储介质，用于解决相关技术中，现有AMOLED显示屏的伽马校正算法，无法既保证屏幕的显示画质与光学效果，又降低伽马校正的单件工时，提高校正效率的问题。

本申请一方面实施例提出的显示屏的校正优化方法，包括：控制显示屏进入基准模式；在所述基准模式下对所述显示屏进行校正以生成基准校正值；获取所述显示屏参考模式对应的偏移校正值；以及根据所述基准校正值和所述参考模式对应的偏移校正值获取参考模式对应的校正值。

本申请另一方面实施例提出的显示屏的校正优化装置，包括：控制模块，用于控制显示屏进入基准模式；校正模块，用于在所述基准模式下对所述显示屏进行校正以生成基准校正值；第一获取模块，用于获取所述显示屏参考模式对应的偏移校正值；第二获取模块，用于根据所述基准校正值和所述参考模式对应的偏移校正值获取参考模式对应的校正值。

本申请再一方面实施例提出的电子设备，其包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如前所述的显示屏的校正优化方法。

本申请又一方面实施例提出的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如前所述的显示屏的校正优化方法。

本申请再一方面实施例提出的计算机程序，该程序被处理器执行时，以实现本申请实施例所述的显示屏的校正优化方法。

本申请实施例提供的显示屏的校正优化方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序，可以控制显示屏进入基准模式，并在基准模式下对显示屏进行校正以生成基准校正值，之后获取显示屏参考模式对应的偏移校正值，进而根据基准校正值和参考模式对应的偏移校正值，获取参考模式对应的校正值。由此，通过在基准模式下对显示屏进行一次校正，之后即可根据生成的基准校正值及预设的参考模式对应的偏移校正值，获取参考模式对应的校准值，从而不仅减少了进行校正的次数，提高了校正效率和产能，而且保证了显示屏的显示画质与光学效果，改善了用户体验。