[发明专利]一种芯片测试方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 201811307906.2 | 申请日： | 2018-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN109270439A | 公开（公告）日： | 2019-01-25 |
| 发明（设计）人： | 李拓;周恒钊 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试输入端 数据生成 测试数据 芯片测试 芯片 芯片测试装置 测试 参数执行 全面性 保证 | ||
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；
分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据；
将各所述测试数据传入相应的所述测试输入端，以对所述待测芯片进行测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对所述待测芯片进行测试后，该方法进一步包括：
当所述测试输入端中的目标测试输入端工作状态异常时，选取所述目标测试输入端，并仅对所述目标测试输入端对应的所述数据生成函数和/或执行参数进行修改。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数具体为：
对所述待测芯片中各所述测试输入端设置对应的随机数生成函数及随机种子；
相应的，所述分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据具体为：
分别基于各所述随机种子执行相应的所述随机数生成函数，生成各所述测试输入端对应的所述测试数据。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述待测芯片中各所述测试输入端对应的所述随机种子互不相同。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述随机种子具体为系统时间。
6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述数据生成函数具体基于Verilog HDL编写。
7.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
设置模块，用于对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；
数据生成模块，用于分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据；
传入测试模块，用于将各所述测试数据传入相应的所述测试输入端，以对所述待测芯片进行测试。
8.一种芯片测试设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述的芯片测试方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的芯片测试方法的步骤。
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