[发明专利]一种芯片测试方法、装置、设备及介质

说明书

本发明公开了一种芯片测试方法、装置、设备及介质。该方法的步骤包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据；将各测试数据传入相应的测试输入端，以对待测芯片进行测试。本方法对于芯片的每个测试输入端均设置有相应的数据生成函数，进而各个测试输入端的测试数据均由该测试输入端对应的数据生成函数单独产生，进而保证了芯片测试的灵活性以及全面性。此外，本发明还提供一种芯片测试装置、设备及介质，有益效果同上所述。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试方法、装置、设备及介质。

背景技术

随着芯片工艺技术的不断发展，芯片的硬件复杂度不断提高，与此同时，芯片的应用领域也在不断扩展，逐渐覆盖日常生活的各个方面，为了确保芯片产品的稳定性及可靠性，芯片产品开发过程中的仿真测试起到了至关重要的作用。

现有的芯片设计流程中，分为前端设计(逻辑设计)和后端设计(物理设计)两个阶段。前端设计主要是以通过硬件描述语言来实现芯片的逻辑功能。在对芯片进行仿真测试的过程中，需要针对前端设计所涉及到的各个逻辑功能构造相应的使用场景，即测试用例，进而依照测试用例的使用场景向芯片输入端输入相应的测试数据，实现对芯片中工作参数的配置，以此达到模拟芯片在该使用场景下工作的目的，进而通过芯片各个输入端的工作状态获悉当前所测试的逻辑功能的正确性。

当前进行芯片的逻辑功能测试时，各个芯片输入端的测试数据是整体产生的，因此在当前的测试过程中无法为芯片的某一输入端单独生成对应的测试数据。而当前在对逻辑功能进行某一使用场景的测试时，技术人员往往需要在该使用场景的基础上对输入端的测试数据进行定向调整，即对某一个或某几个输入端的测试数据进行定向修改，而其它输入端的测试数据不变，因此当前对芯片的逻辑功能测试显然无法实现对芯片各输入端中测试数据的定向调整，难以保证芯片测试的灵活性以及全面性。

由此可见，提供一种芯片测试方法，以实现对芯片各输入端中测试数据的定向调整，保证芯片测试的灵活性以及全面性，是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种芯片测试方法、装置、设备及介质，以实现对芯片各输入端中测试数据的定向调整，保证芯片测试的灵活性以及全面性。

为解决上述技术问题，本发明提供一种芯片测试方法，包括：

对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；

分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据；

将各测试数据传入相应的测试输入端，以对待测芯片进行测试。

优选的，在对待测芯片进行测试后，该方法进一步包括：

当测试输入端中的目标测试输入端工作状态异常时，选取目标测试输入端，并仅对目标测试输入端对应的数据生成函数和/或执行参数进行修改。

优选的，对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数具体为：

对待测芯片中各测试输入端设置对应的随机数生成函数及随机种子；

相应的，分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据具体为：

分别基于各随机种子执行相应的随机数生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据。

优选的，待测芯片中各测试输入端对应的随机种子互不相同。

优选的，随机种子具体为系统时间。

优选的，数据生成函数具体基于Verilog HDL编写。

此外，本发明还提供一种芯片测试装置，包括：