[发明专利]数控加工过程关键参数识别方法、装置及设备

权利要求书

1.一种数控加工过程关键参数识别方法，其特征在于，所述方法包括：

通过控制终端及外接传感器获取数控加工的试验过程中每个阶段对应的过程参数，所述过程参数包括机床内部的信息以及外接传感器采集到的信息；

在每个阶段结束时，分别测量每个阶段加工的加工质量信息；

根据所述每个阶段对应的过程参数，获取所述每个阶段对应的时域统计量特征集；

根据所述每个阶段对应的时域统计量特征集及加工质量信息，识别所述数控加工对应的关键参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个阶段对应的过程参数，获取所述每个阶段对应的时域统计量特征集，包括：

分别计算所述每个阶段对应的每个过程参数的各个时域统计量；

根据所述每个过程参数的各个时域统计量，获取所述每个过程参数对应的关系矩阵；

根据所述每个阶段对应的过程参数的关系矩阵，通过贪婪算法获得所述每个阶段对应的时域统计量特征集。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个阶段对应的时域统计量特征集及加工质量信息，识别所述数控加工对应的关键参数，包括：

根据所述每个阶段对应的时域统计量特征集及加工质量信息，通过随机森林算法评估每个时域统计量特征的重要度；

将重要度大于预设重要阈值的时域统计量特征确定为所述数控加工对应的关键参数。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述分别计算所述每个阶段对应的每个过程参数的各个时域统计量之前，还包括：

从所述每个阶段对应的每个过程参数中剔除无效数据，之后执行所述分别计算所述每个阶段对应的每个过程参数的各个时域统计量。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个阶段对应的每个过程参数的各个时域统计量，获取所述每个阶段对应的关系矩阵，包括：

计算过程参数的各个时域统计量之间的相关系数，得到所述过程参数对应的相关向量；

分别将每个阶段对应的过程参数的相关向量组成所述每个阶段对应的关系矩阵。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述确定所述数控加工过程对应的关键参数之后，还包括：

在所述数控加工的工业生产时，获取所述关键参数；根据所述关键参数控制所述数控加工的工业生产过程。

7.一种数控加工过程关键参数识别装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于通过控制终端及外接传感器获取数控加工过程中每个阶段对应的过程参数，所述过程参数包括机床内部的信息以及外接传感器采集到的信息；在每个阶段结束时，分别测量每个阶段加工的加工质量信息；根据所述每个阶段对应的所述过程参数，获取所述每个阶段对应的时域统计量特征集；

识别模块，用于根据所述每个阶段对应的时域统计量特征集及加工质量信息，识别所述数控加工过程对应的关键参数。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述识别模块包括：

评估单元，用于根据所述每个阶段对应的时域统计量特征集及加工质量信息，通过随机森林算法评估每个时域统计量特征的重要度；

确定单元，用于将重要度大于预设重要阈值的时域统计量特征确定为所述数控加工过程对应的关键参数。

9.一种数控加工过程关键参数识别设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的方法。