[发明专利]数控加工过程关键参数识别方法、装置及设备

说明书

本发明公开了一种数控加工过程关键参数识别方法、装置及设备，该方法包括：获取数控加工的试验过程中每个阶段对应的过程参数及加工质量信息；根据每个阶段对应的过程参数，获取每个阶段对应的时域统计量特征集；根据每个阶段对应的时域统计量特征集及加工质量信息，识别数控加工对应的关键参数。本发明能够从数控加工过程的动态信息中准确地识别出关键参数，后续在数控加工生产中只根据关键参数即可实现对数控加工过程的状态监测，提高了数控加工状态监测的准确性和效率，避免一些冗余或影响较小的参数掩盖重要参数的作用，使数控监测过程简单、快速，节省大量的计算资源。

技术领域

本发明属于数控加工技术领域，具体涉及一种数控加工过程关键参数识别方法、装置及设备。

背景技术

数控加工过程是一个复杂的、自动化的、高度集中的过程，在数控加工过程中包含着各类过程信息，包括工艺参数、材料特性、设备特性等静态信息，以及主轴振动、扭矩、转速、切削力、温度等高频动态信息，这些过程信息影响着生产线的有效运行。

为了保证数控加工质量，需要对这些过程信息进行感知与控制。近些年传感器技术快速发展，通过传感器采集数控加工过程中的各种动态数据，根据这些动态数据监控数控加工过程。但动态数据种类繁多，表现形式多种多样，信息容量非常巨大，信息关系非常复杂，采集每一种动态数据并依据每种动态数据进行过程监控，导致处理速度慢，无法做到对全部动态数据全时段监控。且一些冗余或者影响较小的参数会掩盖重要参数的作用，增加过程检测的复杂性，并造成一定的计算资源浪费。

发明内容

为解决以上问题，本发明提供一种数控加工过程关键参数识别方法、装置、设备及计算机可读存储介质，识别数控加工过程的关键参数，只根据关键参数即可实现对数控加工过程的状态监测，提高了监测的准确性和效率，避免一些冗余或影响较小的参数掩盖重要参数的作用，节省大量的计算资源。本发明通过以下几个方面来解决以上问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种数控加工过程关键参数识别方法，所述方法包括：

获取数控加工的试验过程中每个阶段对应的过程参数及加工质量信息；

根据所述每个阶段对应的过程参数，获取所述每个阶段对应的时域统计量特征集；

根据所述每个阶段对应的时域统计量特征集及加工质量信息，识别所述数控加工对应的关键参数。

结合第一方面，本发明实施例提供了上述第一方面的第一种可能的实现方式，其中，所述根据所述每个阶段对应的过程参数，获取所述每个阶段对应的时域统计量特征集，包括：

分别计算所述每个阶段对应的每个过程参数的各个时域统计量；

根据所述每个过程参数的各个时域统计量，获取所述每个过程参数对应的关系矩阵；

根据所述每个阶段对应的过程参数的关系矩阵，通过贪婪算法获得所述每个阶段对应的时域统计量特征集。

结合第一方面，本发明实施例提供了上述第一方面的第二种可能的实现方式，其中，所述根据所述每个阶段对应的时域统计量特征集及加工质量信息，识别所述数控加工对应的关键参数，包括：

根据所述每个阶段对应的时域统计量特征集及加工质量信息，通过随机森林算法评估每个时域统计量特征的重要度；

将重要度大于预设重要阈值的时域统计量特征确定为所述数控加工对应的关键参数。

结合第一方面的第一种可能的实现方式，本发明实施例提供了上述第一方面的第三种可能的实现方式，其中，所述分别计算所述每个阶段对应的每个过程参数的各个时域统计量之前，还包括：

从所述每个阶段对应的每个过程参数中剔除无效数据，之后执行所述分别计算所述每个阶段对应的每个过程参数的各个时域统计量。