[发明专利]电子设备的测试电路和测试方法

权利要求书

1.一种电子设备的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括第一接口模块、第二接口模块和识别芯片，其中，

所述第一接口模块用于在对所述电子设备的电路板进行测试时，获取与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送所述电路板测试设备的接口信息到所述识别芯片；

所述第二接口模块用于在对所述电子设备的整机进行测试时，获取与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送所述整机测试设备的接口信息到所述识别芯片；

所述识别芯片用于识别所述电路板测试设备的接口信息以得到所述电路板测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口，或者，所述识别芯片用于识别所述整机测试设备的接口信息以得到所述整机测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在测试过程中，当所述中央处理器开启相应的数据端口后，所述第一接口模块和/或所述第二接口模块还用于将获取的测试信号经由所述中央处理器开启的数据端口发送给所述中央处理器或者接收所述中央处理器返回的测试结果信号。

3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，当对所述电子设备的整机进行测试时，所述测试电路还包括切换模块，

其中，所述切换模块响应于从所述中央处理器获取的预定端口开启指令开启相应的预定端口，

其中，在测试过程中，所述切换模块经由开启的预定端口接收测试信号或者接收测试结果信号。

4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，当对所述电子设备的电路板进行测试时，所述第一接口模块为用于电路板测试的金手指；当对所述电子设备的整机进行测试时，所述第二接口模块为USB Type-C连接器。

5.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述测试信号包括通用串行总线数据测试信号和通用串口总线数据测试信号。

6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述第一接口模块包括：

第一端口，用于发送第一通用串行总线正电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线正电压数据测试结果信号；

第二端口，用于发送第一通用串行总线负电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线负电压数据测试结果信号；

第三端口，用于发送通用串口总线数据测试信号；

第四端口，用于接收通用串口总线数据测试结果信号；

第五端口，用于将获取的与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息发送到所述识别芯片。

7.如权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述第二接口模块包括：

第六端口，用于发送第一通用串行总线正电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线正电压数据测试结果信号；

第七端口，用于发送第一通用串行总线负电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线负电压数据测试结果信号；

第八端口，用于发送通用串口总线数据测试信号，或者，用于发送第二通用串行总线数据测试信号；

第九端口，用于接收通用串口总线数据结果测试信号，或者，用于接收第二通用串行总线数据测试结果信号；

第十端口，用于将获取的与所述第二接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息发送到所述识别芯片。