[发明专利]可量化光学特性管控方法、装置及可读存储介质

权利要求书

1.一种可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述可量化光学特性管控方法包括：

获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；

采用预置的检验方法对所述样本参数以及预置基准样本参数进行分析；

得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；

根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。

2.如权利要求1所述的可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数之前包括：

获取品质合格的显示屏的光学特性数据，根据所述品质合格的显示屏的光学特性数据得到基准样本，基准样本经过计算处理，得到基准样本参数。

3.如权利要求1所述的可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告包括：

当所述P值大于预设阈值时，生成对应的第一类分析报告。

4.如权利要求1或3所述的可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告还包括：

当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望大特性；

当所述目标显示屏的光学特性为望大特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第二类分析报告。

5.如权利要求1或3所述的可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告还包括：

当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望小特性；

当所述目标显示屏的光学特性为望小特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第三类分析报告。

6.一种可量化光学特性管控装置，其特征在于，所述可量化光学特性管控装置包括：

获取模块，用于获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；

分析模块，用于采用预置的检验方法对所述样本参数以及预置基准样本参数进行分析；

P值获取模块，用于得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；

生成模块，用于根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。

7.如权利要求6所述的可量化光学特性管控装置，其特征在于，所述可量化光学特性管控装置还包括：

基准制定模块，用于获取品质合格的显示屏的光学特性数据，根据所述品质合格的显示屏的光学特性数据得到基准样本，基准样本经过计算处理，得到基准样本参数。

8.如权利要求6所述的可量化光学特性管控装置，其特征在于，所述生成模块包括：

第一生成单元，用于当所述P值大于预设阈值时，生成对应的第一类分析报告。

9.如权利要求6或8所述的可量化光学特性管控装置，其特征在于，所述生成模块还包括：

第一判断单元，用于当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望大特性；

第二生成单元，用于当所述目标显示屏的光学特性为望大特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第二类分析报告。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有可量化光学特性管控程序，所述可量化光学特性管控程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的可量化光学特性管控方法的步骤。