[发明专利]可量化光学特性管控方法、装置及可读存储介质

说明书

本申请公开了一种可量化光学特性管控方法、装置及可读存储介质，可量化光学特性管控方法包括：获取目标显示屏的光学特性数据，得到样本，经过计算处理，得到样本参数；采用预置的检验方法对所述样本参数以及所述预置基准样本参数进行分析；得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。通过本申请，使得在对显示屏可量化的光学特性的检测过程中，减少误判情况的发生，且不再需要人工依靠经验来进行判断，达到自动化管制的目的，能有效提高工作效率。

技术领域

本申请涉及品质管控领域，尤其涉及可量化光学特性管控方法、装置及可读存储介质。

背景技术

在现有的制造型行业体系中，常用的统计过程控制(SPC)，在生产中能够起到降低产品报废率、减少返工、提升人员效率等一系列作用，在指导生产中起到了很大的作用。但是，在液晶电视成品的质检中，需要检验光学特性，在使用SPC对液晶电视成品的质量管控中，由于过于敏感或是侦测度不足，造成误判的情况发生，所以，仍需要人工依靠经验进行判断，降低了生产效率，增加了生产成本。

发明内容

本申请的主要目的在于解决现有技术中使用SPC对液晶电视成品进行质量管控，由于过于敏感或是侦测度不足，造成误判的情况时有发生，所以，仍需要人工依靠经验进行判断的技术问题。

为实现上述目的，本申请提供的一种可量化光学特性管控方法，包括：

获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；

采用预置的检验方法对所述样本参数以及预置基准样本参数进行分析；

得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；

根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。

可选的，所述获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数之前包括：

获取品质合格的液晶屏的光学特性数据，根据所述品质合格的液晶屏的光学特性数据得到基准样本，基准样本经过计算处理，得到基准样本参数。

可选的，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告包括：

当所述P值大于预设阈值时，生成对应的第一类分析报告。

可选的，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告还包括：

当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望大特性；

当所述目标显示屏的光学特性为望大特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第二类分析报告。

可选的，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告还包括：

当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望小特性；

当所述目标显示屏的光学特性为望小特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第三类分析报告。

此外，为实现上述目的，本申请还提供一种可量化光学特性管控装置，包括：

获取模块，用于获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；

分析模块，用于采用预置的检验方法对所述样本参数以及所述预置基准样本参数进行分析；

P值获取模块，用于得到所述样本参数同预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；