[发明专利]测试方法、装置和存储介质

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，应用于测试面板，所述测试面板包括多个像素块，每个所述像素块对应一个晶体管开关，包括：

控制每个所述晶体管开关的栅极电压在第一预设时间段内为第一电压，并控制每个所述晶体管开关的栅极电压在第二预设时间段内为关断电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述晶体管开关的源极电压的大小正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压，所述第一预设时间段与所述第二预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期；

控制每个所述晶体管开关的存储电容的电压在第一开关周期内为第二电压，控制每个所述晶体管开关公共电压在所述第一开关周期内为0V，使得所述测试面板中存在故障的像素块在所述第一开关周期内显示为第二亮度，所述第二亮度的亮度值与所述第二电压的大小正相关，所述第二电压大于所述源极电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

控制所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期内为0V，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，所述第三亮度的亮度值为0。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

控制每个所述晶体管开关的存储电容的电压在第二开关周期内为第三电压，控制每个所述晶体管开关公共电压、源极电压在所述第二开关周期内为0V，所述第二电压和所述第三电压的大小相等且方向相反，所述第一开关周期和所述第二开关周期为相邻的开关周期。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第二电压与所述源极电压的差值大于电压差值阈值，所述第三电压与所述源极电压的差值大于所述电压差值阈值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一预设时间段为像素块完全放电的时间。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一预设时间段为500us。

7.一种测试装置，其特征在于，包括：

第一亮度控制模块，用于控制每个晶体管开关的栅极电压在第一预设时间段内为第一电压，并控制每个所述晶体管开关的栅极电压在第二预设时间段内为关断电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述晶体管开关的源极电压的大小正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压，所述第一预设时间段与所述第二预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期；

第二亮度控制模块，用于控制每个所述晶体管开关的存储电容的电压在第一开关周期内为第二电压，控制每个所述晶体管开关公共电压在所述第一开关周期内为0V，使得所述测试面板中存在故障的像素块在所述第一开关周期内显示为第二亮度，所述第二亮度的亮度值与所述第二电压的大小正相关，所述第二电压大于所述源极电压。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第三亮度控制模块；

所述第三亮度控制模块，用于控制所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期内为0V，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，所述第三亮度的亮度值为0。

9.一种测试装置，其特征在于，其特征在于，包括：至少一个处理器和存储器；

所述存储器存储计算机执行指令；

所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述测试装置执行权利要求1-6任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被处理器执行时，实现权利要求1-6任一项所述的方法。