[发明专利]测试方法、装置和存储介质

说明书

本发明提供一种测试方法、装置和存储介质，该方法包括：控制每个晶体管开关的栅极电压在第一预设时间段内为第一电压，并控制每个晶体管开关的栅极电压在第二预设时间段内为关断电压，以将每个晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，第一预设时间段与第二预设时间段之和为晶体管开关的一个开关周期；控制每个晶体管开关的存储电容的电压在第一开关周期内为第二电压，控制每个晶体管开关公共电压在第一开关周期内为0V，使得测试面板中存在故障的像素块在第一开关周期内显示为第二亮度，第二电压大于源极电压。本发明的测试方法能够使得故障的像素块亮点化，使得操作人员便于在亮度暗的测试面板中检出显示为亮点的故障像素块。

技术领域

本发明涉及液晶显示器制造技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置和存储介质。

背景技术

液晶显示器是一种平面、超薄的显示设备。液晶显示器的功耗很低，并且具有高画质、体积小、重量轻的特点，因此倍受大家青睐，成为显示器的主流。目前液晶显示器是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器为主，而一般薄膜晶体管液晶显示器的制作可大致分为三部分：薄膜晶体管阵列(TFT Array)制备过程、彩色滤光板制备工程、液晶显示单元组装(LC Cell Assembly)制备过程和液晶显示模块(Liquid Crystal Module，LCM)制备过程。液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶面板进行测试，确认液晶面板是否存在缺陷。该测试过程是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。

现有技术中，在点灯测试的过程中，需要为液晶面板提供背光，使得液晶面板中的像素块被点亮，操作人员在点亮的液晶面板中检查每个像素块是否正常显示，排出具有缺陷的液晶面板。

但由于人眼感官的问题，操作人员在点亮的液晶面板中检查有缺陷的黑点较为困难，且容易漏检，使得检查结果的准确率低。

发明内容

本发明提供一种测试方法、装置和存储介质，能够使得故障的像素块亮点化，使得操作人员便于在亮度暗的测试面板中检出显示为亮点的故障像素块，提高检出效率。

本发明的第一方面提供一种测试方法，应用于测试面板，所述测试面板包括多个像素块，每个所述像素块对应一个晶体管开关，包括：

控制每个所述晶体管开关的栅极电压在第一预设时间段内为第一电压，并控制每个所述晶体管开关的栅极电压在第二预设时间段内为关断电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述晶体管开关的源极电压的大小正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压，所述第一预设时间段与所述第二预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期；

控制每个所述晶体管开关的存储电容的电压在第一开关周期内为第二电压，控制每个所述晶体管开关公共电压在所述第一开关周期内为0V，使得所述测试面板中存在故障的像素块在所述第一开关周期内显示为第二亮度，所述第二亮度的亮度值与所述第二电压的大小正相关，所述第二电压大于所述源极电压。

可选的，所述方法还包括：

控制所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期内为0V，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，所述第三亮度的亮度值为0。

可选的，所述方法还包括：

控制每个所述晶体管开关的存储电容的电压在第二开关周期内为第三电压，控制每个所述晶体管开关公共电压、源极电压在所述第二开关周期内为0V，所述第二电压和所述第三电压的大小相等且方向相反，所述第一开关周期和所述第二开关周期为相邻的开关周期。