[发明专利]平板探测器的增益校正方法有效
| 申请号： | 201811345590.6 | 申请日： | 2018-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN109709597B | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 王淑丽 | 申请（专利权）人： | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201201 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 平板 探测器 增益 校正 方法 | ||
1.一种平板探测器的增益校正方法，其特征在于，所述平板探测器的增益校正方法至少包括：
在设定剂量点下采集空场亮场图像，基于所述空场亮场图像及原始暗场图像，生成偏置校正模板；
对所述偏置校正模板进行感兴趣区域划分；
以所述感兴趣区域为单位，进行滤波，得到增益校正模板；
利用所述增益校正模板对图像进行增益校正处理。
2.根据权利要求1所述的平板探测器的增益校正方法，其特征在于：所述空场亮场图像的采集数量包括1张。
3.根据权利要求2所述的平板探测器的增益校正方法，其特征在于：将所述空场亮场图像减去所述原始暗场图像得到所述偏置校正模板。
4.根据权利要求1所述的平板探测器的增益校正方法，其特征在于：所述空场亮场图像的采集数量包括2～4张。
5.根据权利要求4所述的平板探测器的增益校正方法，其特征在于：将各空场亮场图像取平均后的平均图像减去所述原始暗场图像得到所述偏置校正模板。
6.根据权利要求1～5任意一项所述的平板探测器的增益校正方法，其特征在于：根据平板探测器的固有通道划分所述感兴趣区域。
7.根据权利要求6所述的平板探测器的增益校正方法，其特征在于：所述感兴趣区域包括32*32个检测单元、64*64个检测单元、128*128个检测单元。
8.根据权利要求6所述的平板探测器的增益校正方法，其特征在于：对所述感兴趣区域进行滤波前，将所述感兴趣区域中坏损的检测单元去除。
9.根据权利要求1～5任意一项所述的平板探测器的增益校正方法，其特征在于：所述滤波方法包括均值滤波，中值滤波、高斯滤波或方框滤波。
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