[发明专利]平板探测器的增益校正方法

说明书

本发明提供一种平板探测器的增益校正方法，包括：在设定剂量点下采集空场亮场图像，基于所述空场亮场图像及原始暗场图像，生成偏置校正模板；对所述偏置校正模板进行感兴趣区域划分；以所述感兴趣区域为单位，进行滤波，得到增益校正模板；利用所述增益校正模板对图像进行增益校正处理。本发明的平板探测器的增益校正方法在客户端拍摄图像少于5张(甚至是一张)的情况下生成增益校正模板，本发明能够在几乎不改变正常图像的图像质量情况下，实时且有效的进行图像增益校正，极大的缩短了时间，提高了工作效率。

技术领域

本发明涉及X射线平板探测器领域，特别是涉及一种平板探测器的增益校正方法。

背景技术

随着平板探测器相关技术的发展，用户对于一款平板探测器的性能有了更高的要求，除了图像质量好、探测器响应速度快、拍摄对象接受到的剂量低以外，对于探测器进入正常拍摄状态所需时间也是要求越快越好。

为了保证图像的稳定性，消除电子学、温漂等噪声，需要在某一剂量下多次采集原始亮场图像(一般为5帧)，取得平均图像。当采集原始亮场图像时，首先需要对原始亮场图像进行偏置校正(offset校正)，将原始亮场图像的本底部分减去，然后将偏置校正后的平均图像进行光电转换特性的归一化处理，以生成静态增益校正模板(Gain map)。

当平板探测器与球管之间的相对位置发生改变时(如平板探测器发生平移、旋转、倾斜；或者源像距(SID，Source Image Distance，X射线源与平板探测器之间的距离，SID越大图像的几何度越好，图像越清晰)发生改变)，需要调整静态增益校正模板里的校正系数。一旦需要更新静态增益校正模板，就需要重复操作静态增益校正模板的生成流程，每次都需要重新采集5张原始亮场图像(5张原始亮场图像可以保证图像的均匀性达到最大调整)，大大增加时间成本，并降低操作便捷性，工作效率低下。

因此，如何减小平板探测器进入正常拍摄状态的时间成本、提高操作便捷性和工作效率，已成为本领域技术人员亟待解决的问题之一。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种平板探测器的增益校正方法，用于解决现有技术中静态增益校正模板的生成时间长、操作繁琐、效率低下等问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种平板探测器的增益校正方法，所述平板探测器的增益校正方法至少包括：

在设定剂量点下采集空场亮场图像，基于所述空场亮场图像及原始暗场图像，生成偏置校正模板；

对所述偏置校正模板进行感兴趣区域划分；

以所述感兴趣区域为单位，进行滤波，得到增益校正模板；

利用所述增益校正模板对图像进行增益校正处理。

可选地，所述空场亮场图像的采集数量包括1张。

更可选地，将所述空场亮场图像减去所述原始暗场图像得到所述偏置校正模板。

可选地，所述空场亮场图像的采集数量包括2～4张。

更可选地，将各空场亮场图像取平均后的平均图像减去所述原始暗场图像得到所述偏置校正模板。

更可选地，根据平板探测器的固有通道划分所述感兴趣区域。

更可选地，所述感兴趣区域包括32*32个检测单元、64*64个检测单元、128*128个检测单元。

更可选地，对所述感兴趣区域进行滤波前，将所述感兴趣区域中坏损的检测单元去除。

更可选地，所述滤波方法包括均值滤波，中值滤波、高斯滤波或方框滤波。

如上所述，本发明的平板探测器的增益校正方法，具有以下有益效果：