[发明专利]补位回流测试线及其工艺流程

说明书

本发明公开了一种补位回流测试线，其包括逐个对接构成“U”形流水线的第一储料轨道、补位轨道、中继轨道、转向轨道和第二储料轨道以及位于流水线一侧的上料区、下料区、不良品区和移料机器人；移料机器人位于第一储料轨道与第二储料轨道之间，实现上料区与第一储料轨道对接、第二储料轨道与下料区和不良品区对接；第一储料轨道与转向轨道之间、第二储料轨道与转向轨道之间分别设置有多个补位轨道、中继轨道，每个补位轨道的一侧设置有测试站，补位轨道采用主、副双轨道并排结构且能够横向平移，当补位轨道的主轨道由线上位置移至测试位置时，其副轨道移至空出的线上位置形成补位。本发明还对应公开了一种补位回流测试线的工艺流程。

技术领域

本发明涉及集成电路板测试技术领域，尤其涉及一种补位回流测试线及其工艺流程。

背景技术

集成电路板测试为集成电路板制造、应用的必要环节，集成电路板根据产品设计与其功能要求，可能需要配合多种测试治具才能完成完整测试，另外由于测试时间可能较长，为节约生产时间，推进生产节拍，针对测试时间较长的测试项目，通常会增加测试治具数量而同时进行测试，以提高测试效率。而在既定的测试时间条件下，如何使集成电路板在各站测试治具间流转、装载的时间达成最小化，是提高生产效率的一大关键问题。由于单一测试线可能包含多台测试治具，且线体长度较长，因而电路板的流转与装载多以自动化辅以人工方式投入生产，这种半自动的方式对人工要求较高，且前后测试件遵循排列顺序，一旦人工操作失误、疏忽或某处测试故障，会造成电路板压板、堆料严重、延迟测试时间、影响生产进程等负面情况发生。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一种补位回流测试线，实现测试件全自动化流转与装载，配合测试系统合理规划路径，提高测试效率。

本发明的另一目的在于提供一种补位回流测试线的工艺流程，优化测试件流水，避免测试等待，提高测试效率，以及实现不良品剔除功能。

为达上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种补位回流测试线，其包括逐个对接构成“U”形流水线的第一储料轨道、补位轨道、中继轨道、转向轨道和第二储料轨道以及位于流水线一侧的上料区、下料区、不良品区和移料机器人；

移料机器人位于第一储料轨道与第二储料轨道之间，实现上料区与第一储料轨道对接、第二储料轨道与下料区和不良品区对接；

第一储料轨道与转向轨道之间、第二储料轨道与转向轨道之间分别设置有多个补位轨道、中继轨道，每个补位轨道的一侧设置有测试站，补位轨道采用主、副双轨道并排结构且能够横向平移，当补位轨道的主轨道由线上位置移至测试位置时，其副轨道移至空出的线上位置形成补位。

其中，补位轨道和中继轨道交替设置且相互独立控制，当某个补位轨道横向平移动作时，其流水前方的中继轨道停止。

其中，转向轨道的两端设置有转角轨道，转角轨道包括第一方向轨道和第二方向轨道，第二方向轨道位于第一方向轨道内部，且能够升降设置。

其中，各轨道上设置有限位拦边。

其中，测试件不与各轨道直接接触，各轨道上设置有载具，测试件通过移料机器人逐个放置于对应载具上。

其中，每个载具上标识有不同ID号，各补位轨道上以及第二储料轨道上均设有识别传感器。通过识别传感器记录并上传测试件的测试信息。

其中，至少两个测试站的测试项目相同。

一种基于上述补位回流测试线的工艺流程，其包括以下步骤：

1)移料机器人将上料区中的测试件移至第一储料轨道上；