[发明专利]一种基质辅助激光解析质谱大批量上样装置

说明书

本发明涉及一种基质辅助激光解析质谱大批量上样装置。该上样装置包括可伸缩支架、上样孔道板、样品刮板和样品压板组成。可伸缩支架可调节大小以适应各种不同规格的靶板，调节高度以控制上样孔道板及靶板的距离。上样孔道板上孔道阵列与靶点阵列一致。用样品刮板将倾倒在上样孔道板上的待测样品简单快速的平均分配到各个孔道中，再使用样品压板使孔道中的样品在外加压力的作用下，同时上样至靶点上。该装置可实现基质辅助激光解析质谱的大批量同时上样，缩短点靶及等待结晶的时间，提高质谱检测效率。

技术领域

本发明涉及分析检测仪器领域，特别是涉及一种基质辅助激光解析质谱大批量上样装置。

背景技术

基质辅助激光解吸离子化技术（Matrix-assisted laser desorptionionization，MALDI)是一种由激光解析（laser desorption，LD）发展而来的新的质谱离子化技术。其基本原理是样品与基质混合，在靶点上形成共结晶，当用激光照射结晶晶体时，基质分子可吸收并蓄积能量，迅速产热，导致基质与待测样品共同形成气相。而样品的离子化由有机基质的质子转移完成，最终待测样品离子经过去溶聚焦等装置，到达质量分析器中进行分析。

基质辅助激光解析质谱凭借其独特的离子化原理，在短时间内快速发展。MALDI的优点包括质量检测范围宽、质量准确度高、灵敏度高、可耐受较高浓度的盐、缓冲剂和非挥发性杂质、分析速度快等。此外MALDI 离子源最显著的特点可以进行蛋白、核酸等生物大分子的痕量检测。

现有的商品化仪器常用96孔或者384孔板，若每个靶点依次点靶，上样和等待结晶的时间会拉长实验周期，弱化MALDI分析速度快的优点。故研发一种MALDI大批量上样装置，保证样品同时上样到靶点上，缩短上样时间以及结晶等待时间，就显得十分必要。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种基质辅助激光解析质谱大批量上样装置，该装置便于将样品简单快速的同时上样到MALDI靶板上，缩短上样及等待结晶的时间，提高分析效率。

为解决上述技术问题，本发明所述基质辅助激光解析质谱大批量上样装置由可伸缩支架1、上样孔道板2、样品刮板3以及样品压板4组成，其中：可伸缩支架1的四个边可以通过手动拉伸的方式调整长度，保证其与所用靶板尺寸一致；可伸缩支架1的四个角分别设有一个高度可以调节的四角支柱5，四角支柱5上设有平面凸台6，平面凸台6可以随四角支柱5的高度调节在竖直方向上移动；上样孔道板2由平面凹槽8和在平面凹槽8上阵列分布的孔道7组成，其中，孔道7 从上样孔道板2表面贯穿至底部，孔道7的阵列分布与所用靶板上的靶点阵列分布一致；样品压板4上均匀分布着与孔道7阵列相对应的柱形凸出9，柱形凸出9与孔道7的阵列分布及孔道7的形状完全一致，且柱形凸出9高度比孔道7深度长0.01 - 50mm；样品刮板3截面为三角形。

本发明中，上样孔道板2、支架5、样品刮板3和样品压板4的材料可选用铝材、不锈钢或者塑料中的一种。

本发明中，上样之前，调节四角支柱5的高度使上样孔道板2与所用靶板紧密贴合。

本发明中，孔道7为圆锥台形或圆柱形。

本发明中，孔道7所能容纳样品体积为0.1 uL - 5 uL。

本发明中，孔道7底面直径为0.1 - 10 mm。

本发明中，上样孔道板2厚度在0.1 - 50 mm。

本发明中，样品进入孔道后，在竖直方向上上孔道板2与所用靶板可分离0 .1- 50mm。

本发明中，孔道7轴心应与靶板上靶点轴心相差0.1 - 5 mm。

与现有技术相比，本发明具有的有益效果为：

1）简单高效的实现MALDI靶板样品同时上样；