[发明专利]一种退卷积的超高光谱分辨率增强方法有效
申请号: | 201811357344.2 | 申请日: | 2018-11-15 |
公开(公告)号: | CN109282898B | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 刘加庆;韩顺利;张志辉;刘雷;王建国 | 申请(专利权)人: | 中电科仪器仪表有限公司 |
主分类号: | G01J3/44 | 分类号: | G01J3/44;G01J3/02 |
代理公司: | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 | 代理人: | 陈海滨 |
地址: | 266555 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 卷积 超高 光谱 分辨率 增强 方法 | ||
1.一种退卷积的超高光谱分辨率增强方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:首先根据式(1)建立基于受激布里渊效应的光谱分析系统中单模保偏光纤链路中产生的受激布里渊增益谱的数学模型:
其中,gB(ν)为受激布里渊增益谱,g0为受激布里渊谱峰值,C和1-C为常数分别表示洛伦兹线型和高斯线型所占权重,p=(n2-1)(n+2)/3为光纤的电致伸缩系数,ρ为光纤纤芯材料密度,c为真空中的光速,νB为布里渊增益谱频率(单位为Hz),△νp为泵浦信号谱宽,ΔνB=1/(2πTB)为布里渊增益谱宽,TB为光纤中的声子寿命,gesp(ν)表示光纤自发布里渊散射引入的光谱分量,用高斯函数线型表示;
步骤2:光谱分析系统测量得到的光谱采用式(2)中Sm(ν)表示,在光谱分析系统的每一光谱采样点,基于受激布里渊增益谱数学模型,对测量得到的超高光谱进行退卷积,
Sm(ν)=Sr(ν)×gB(ν) (2)
对测量得到的光谱Sm(ν)移除光谱分析系统的仪器线型函数,即移除受激布里渊增益谱gB(ν)对于测量光谱的影响,即可得到测量目标的真实光谱Sr(ν),从而可实现光谱分析系统的光谱分辨率增强,此过程即为退卷积,得到的分辨率增强的目标光谱Sp(ν)如式(3)所示:
Sp(ν)=IFFT{FFT(Sm(ν))/FFT(gB(ν))} (3)
其中,FFT表示傅里叶变换,IFFT表示逆傅里叶变换;
步骤3:采用帕德逼近光谱拟合方法消除退卷积得到的超高光谱中存在的光谱缺陷,对目标光谱Sp(ν)进行光谱拟合,并与拟合结果进行比较,如果两者偏差超过20%,则用拟合值代替光谱Sp(ν)的对应光谱采样点,从而最终得到分辨率增强的目标光谱Suh(ν)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中电科仪器仪表有限公司,未经中电科仪器仪表有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811357344.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。