[发明专利]参考电压产生电路和包括其的集成电路

说明书

参考电压产生电路包括：运算放大器，包括连接到第一节点的第一输入端子和连接到第二节点的第二输入端子；第一晶体管，连接在接地端子和第一节点之间，其中第一电流在第一晶体管中流动；第二晶体管，连接到接地端子；第一可变电阻器，连接在第二晶体管和第二节点之间，其中第一可变电阻器具有用于基于由形成第一晶体管的工艺的变化引起的、第一晶体管的电流特性的改变来调整第一电流的第一电阻值。参考电压产生电路基于第一节点的电压和第一可变电阻器两端的电压提供参考电压。

相关申请的交叉引用

本申请要求分别于2017年11月17日和2018年9月17日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2017-0154194和No.10-2018-0111030的权益，其公开内容通过引用全部并入本文。

技术领域

本发明构思涉及集成电路，更具体地，涉及参考电压产生电路、包括该参考电压产生电路的温度传感器、包括该参考电压产生电路的集成电路和校正该集成电路中包括的双极结型晶体管(Bipolar Junction Transistor，BJT)的电流以使其具有设计值或期望值的方法。

背景技术

集成电路中的元件可以具有取决于温度的特性。例如，晶体管的阈值电压可以在晶体管的环境温度升高或降低时变化。集成电路可以包括用于感测集成电路温度的温度传感器，并且可以基于温度代码提供对取决于温度的元件的特性进行补偿的功能。

在集成电路中，参考电压可以用于各种目的，并且随着参考电压的准确度的提高，集成电路的正常操作可以被确保，或者集成电路的性能可以被提高。对于集成电路的具有随着集成电路的温度升高或降低而改变的特性的元件，还可以产生基于温度的改变而变化的参考电压。当集成电路的温度改变引起集成电路的参考电压变化而导致参考电压不准确时，可能发生集成电路故障。

发明内容

本发明构思的一些方面提供参考电压产生电路，其中，尽管形成参考电压产生电路的一个或多个元件(例如，晶体管)的工艺发生变化，但是也可以提高参考电压的精确度。本发明构思的其他方面提供：包括该参考电压产生电路的温度传感器、包括该参考电压产生电路的集成电路和校正该集成电路中包括的双极结型晶体管(BJT)的电流以使其具有设计值或期望值的方法。

根据本发明构思的一方面，提供了一种参考电压产生电路，该参考电压产生电路包括：运算放大器，包括连接到第一节点的第一输入端子，并且还包括连接到第二节点的第二输入端子；第一晶体管，连接在接地端子和第一节点之间，其中第一电流在第一晶体管中流动；第二晶体管，连接到接地端子；和第一可变电阻器，连接在第二晶体管和第二节点之间，该第一可变电阻器具有用于基于由形成第一晶体管的工艺的变化导致的第一晶体管的电流特性的改变来调整第一电流的第一电阻值，其中参考电压产生电路基于第一节点的电压和第一可变电阻器两端的电压提供参考电压。

根据本发明构思的另一方面，提供了一种温度传感器，该温度传感器包括：参考电压产生电路，被配置为产生与温度无关的恒定的第一和第二参考电压；第一电压产生电路，被配置为基于第二参考电压产生与温度成比例的第一电压；和模数转换器(Analog-To-Digital Converter，ADC)，被配置为基于第一参考电压和第一电压产生数字温度信号。参考电压产生电路包括：运算放大器，其具有连接到第一节点的第一输入端子，并且具有连接到第二节点的第二输入端子；第一晶体管，连接在接地端子和第一节点之间，其中第一电流在第一晶体管中流动；第二晶体管，连接到接地端子；和第一可变电阻器，连接在第二晶体管和第二节点之间，该第一可变电阻器具有用于基于由形成第一晶体管的工艺的变化导致的第一晶体管的电流特性的改变来调整第一电流的第一电阻值，并且第一和第二参考电压基于第一节点的电压和第一可变电阻器两端的电压而确定。