[发明专利]数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质

权利要求书

1.一种数控机床接触反馈式自动测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取测量机构的进给路径；

根据所述进给路径，控制所述测量机构的测量触头分别与工件的多个采集点触接，以分别多次导通接触反馈电路；

接收所述接触反馈电路产生的多个电信号，并记录所述测量触头对应的多个位置坐标信息；

根据多个所述位置坐标信息，确定用于刀具找正的测量信息；

其中，所述获取测量机构的进给路径的步骤包括：

接收上位机采集的工件信息，以确定测量机构的模拟路径；

控制上位机显示所述模拟路径并验证，若无误，则确定所述模拟路径为进给路径。

2.如权利要求1所述的数控机床接触反馈式自动测量方法，其特征在于，所述获取测量机构的进给路径的步骤之前，还包括：

根据工件的形状，确定工件被测量面上用于与所述测量触头接触的多个采集点。

3.如权利要求2所述的数控机床接触反馈式自动测量方法，其特征在于，所述根据工件的形状，确定工件被测量面上用于与所述测量触头接触的多个采集点的步骤中：

所述多个采集点包括：

所述工件的被测量面位于机床坐标系的+Z轴方向上的第一采集点；和/或，

所述工件的被测量面位于机床坐标系的+X轴方向上的第二采集点；和/或，

所述工件的被测量面位于机床坐标系的-X轴方向上的第三采集点；和/或，

所述工件的被测量面位于机床坐标系的+Y轴方向上的第四采集点；和/或，

所述工件的被测量面位于机床坐标系的-Y轴方向上的第五采集点。

4.如权利要求3所述的数控机床接触反馈式自动测量方法，其特征在于，所述接收所述接触反馈电路产生的多个电信号，并记录所述测量触头对应的多个位置坐标信息的步骤之后，还包括：

分别多次控制所述测量机构退至安全位置。

5.如权利要求3所述的数控机床接触反馈式自动测量方法，其特征在于，所述根据多个所述位置坐标信息，确定用于刀具找正的测量信息的步骤中，所述测量信息包括XY平面上工件的加工中心点坐标、Z轴方向上工件的相对距离坐标以及刀具起始点坐标。

6.如权利要求5所述的数控机床接触反馈式自动测量方法，其特征在于，所述根据多个所述位置坐标信息，确定用于刀具找正的测量信息的步骤包括：

根据所述测量触头接触所述第二采集点、第三采集点、第四采集点和/或第五采集点时对应获得的位置坐标信息，计算所述XY平面上工件的加工中心点坐标；

根据所述测量触头接触所述第一采集点时获得的位置坐标信息，确定所述Z轴方向上工件的相对距离坐标；

根据所述Z轴方向上工件的相对距离坐标，确定所述刀具起始点坐标。

7.如权利要求6所述的数控机床接触反馈式自动测量方法，其特征在于，所述根据多个所述位置坐标信息，确定用于刀具找正的测量信息的步骤之后，还包括：

将多个所述电信号、多个所述位置坐标信息以及所述测量信息发送至上位机显示，并进行存储。

8.一种数控机床接触反馈式自动测量系统，其特征在于，包括：

数控机床主体，包括测量机构和伺服驱动系统，其中，所述测量机构具有测量触头，所述伺服驱动系统与所述测量机构驱动连接；以及，

控制系统，包括接触反馈电路、上位机以及控制装置，所述接触反馈电路的第一输入端与所述测量触头连接，所述接触反馈电路的第二输入端用以与工件连接，所述控制装置分别与所述接触反馈电路的输出端、所述伺服驱动系统以及所述上位机电性连接，所述控制装置包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的数控机床接触反馈式自动测量程序，所述数控机床接触反馈式自动测量程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的数控机床接触反馈式自动测量方法的步骤。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有数控机床接触反馈式自动测量程序，所述数控机床接触反馈式自动测量程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的数控机床接触反馈式自动测量方法的步骤。