[发明专利]数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质

说明书

本发明公开一种数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质，所述数控机床接触反馈式自动测量方法包括以下步骤：获取测量机构的进给路径；根据所述进给路径，控制所述测量机构的测量触头分别与工件的多个采集点触接，以分别多次导通接触反馈电路；接收所述接触反馈电路产生的多个电信号，并记录所述测量触头对应的多个位置坐标信息；根据多个所述位置坐标信息，确定用于刀具找正的测量信息。本发明提供的技术方案中，通过测量触头与工件的接触即可导通接触反馈电路，从而自动获取对应的电信号以及位置坐标信息，根据多个所述位置坐标信息可自动计算出用于刀具找正的测量信息，无需人工进行繁琐计算，具有操作方便、成本低廉的优点。

技术领域

本发明涉及机械加工、数控机床和测量仪器的技术领域，特别涉及一种数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质。

背景技术

一般地，数控机床在进行机械加工前均需要进行对刀及寻边等测量过程以确定工件坐标系，实际加工生产采用的测量方法很多，例如试切对刀和寻边器寻边，方法简单方便，但需要人工进行，且容易在工件表面留下接触痕迹，对刀精度较低；或者机外对刀，需要专门借助例如对刀仪等产品进行机外测量，在加工过程中重新测量需要停机装夹，自动化程度较低；现有技术中还有在数控机床上集成精密传感设备进行自动对刀，结构复杂且成本较高，不适合在一般数控机床上推广应用。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质，旨在解决使用通用测量方法自动化程度不足以及自动测量方法所依赖的设备成本高、不适合在一般机械加工中推广的问题。

为实现上述目的，本发明提出的数控机床接触反馈式自动测量方法，包括以下步骤：

获取测量机构的进给路径；

根据所述进给路径，控制所述测量机构的测量触头分别与工件的多个采集点触接，以分别多次导通接触反馈电路；

接收所述接触反馈电路产生的多个电信号，并记录所述测量触头对应的多个位置坐标信息；

根据多个所述位置坐标信息，确定用于刀具找正的测量信息。

优选地，所述获取测量机构的进给路径的步骤包括：

接收上位机采集的工件信息，以确定测量机构的模拟路径；

控制上位机显示所述模拟路径并验证，若无误，则确定所述模拟路径为进给路径。

优选地，所述获取测量机构的进给路径的步骤之前，还包括：

根据工件的形状，确定工件被测量面上用于与所述测量触头接触的多个采集点。

优选地，所述根据工件的形状，确定工件被测量面上用于与所述测量触头接触的多个采集点的步骤中：

所述多个采集点包括：

所述工件的被测量面位于机床坐标系的+Z轴方向上的第一采集点；和/或，

所述工件的被测量面位于机床坐标系的+X轴方向上的第二采集点；和/或，

所述工件的被测量面位于机床坐标系的-X轴方向上的第三采集点；和/或，

所述工件的被测量面位于机床坐标系的+Y轴方向上的第四采集点；和/或，

所述工件的被测量面位于机床坐标系的-Y轴方向上的第五采集点。

优选地，所述接收所述接触反馈电路产生的多个电信号，并记录所述测量触头对应的多个位置坐标信息的步骤之后，还包括：

分别多次控制所述测量机构退至安全位置。