[发明专利]高精度组合壳体的反配钻修理方法

权利要求书

1.一种高精度组合壳体的反配钻修理方法，其特征在于：所述高精度组合壳体的反配钻修理方法包括：

1)确定第一复杂壳体上已有的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置；所述第一复杂壳体是已存在的合格的壳体，具体是：

1.1)在第一复杂壳体上以配合孔C1为测量零点，以孔A1以及孔B1中任意一个孔为测量基准孔，将测量零点和测量基准孔连线建立测量坐标系；

1.2)在步骤1.1)所建立的测量坐标系分别通过高精度测量仪测量孔A1和孔B1的坐标，分别是(X_A1,0)和(X_B1,Y_B1)；

2)根据步骤1)确定得到的第一复杂壳体上孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置来加工第二复杂壳体上孔A2、孔B2以及配合孔C2；所述第二复杂壳体是根据第一复杂壳体重新选配且待加工的壳体；

3)测量第二复杂壳体上的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置；

4)将步骤3)实测得到的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置与步骤1)确定得到的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置进行比较，若在公差范围，则第二复杂壳体为合格；若否，则第二复杂壳体为不合格产品。

2.根据权利要求1所述的高精度组合壳体的反配钻修理方法，其特征在于：所述步骤2)的具体实现方式是：根据步骤1.2)确定得到的第一复杂壳体上测量基准孔和剩余孔的坐标(X_A1,0)和(X_B1,Y_B1)，利用高精度数控机床在第二复杂壳体上以配合孔C2为加工零点，以(X_A1,0)和(X_B1,Y_B1)为编程坐标加工孔A2和孔B2。

3.根据权利要求2所述的高精度组合壳体的反配钻修理方法，其特征在于：所述步骤3)的具体实现方式是：

3.1)在第二复杂壳体上以配合孔C2为测量零点，以步骤1.1)中所记载相同位置的孔为测量基准孔，将测量零点和测量基准孔连线建立测量坐标系；

3.2)在步骤3.1)所建立的测量坐标系分别通过高精度测量仪测量孔A2和孔B2的坐标，分别是(X_A2,0)和(X_B2,Y_B2)。

4.根据权利要求3所述的高精度组合壳体的反配钻修理方法，其特征在于：所述步骤4)的具体实现方式是：将第一复杂壳体上孔A1的坐标与第二复杂壳体上孔A2的坐标进行对比，将第一复杂壳体上孔B1的坐标与第二复杂壳体上孔B2的坐标进行对比，若超出公差要求，则第二复杂壳体为不合格产品；若未超出公差要求，则第二复杂壳体为合格产品。