[发明专利]一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备

权利要求书

1.一种电子元件性能检测方法，其特征在于，包括：

确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；

实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；

查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值；

计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差，并确定所述温度差是否大于第一预设温度；

当所述温度差大于所述第一预设温度时，确定所述目标电子元件发生性能衰减。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

在所述确定所述目标电子元件发生性能衰减之前，进一步包括：

检测所述目标电子元件所对应的各个关联设备的运行参数是否在每一个所述关联设备所分别对应的预设阈值范围之内，如果是，则执行所述确定所述目标电子元件发生性能衰减。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

在所述查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值之前，进一步包括：

检测所述目标电子元件是否发生自动降频，如果是，则执行A1；

A1，检测所述当前工作频率是否大于额定工作频率，如果否，执行A2；

A2，检测所述电子设备所对应的环境温度是否大于第二预设温度，如果是，则执行所述查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值，否则执行所述确定所述目标电子元件发生性能衰减。

4.根据权利要求1至3中任一所述的方法，其特征在于，

在所述实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值之后，进一步包括：

以设定时间间隔周期性确定并记录所述目标电子元件在每一个所述时间间隔内以目标频率运行时所分别对应的采样温度值；

根据各个所述采样温度值以及各个所述采样温度值所分别对应的记录时间点绘制时间-温度二维曲线图表，并提供所述时间-温度二维曲线图表。

5.一种电子元件性能检测装置，其特征在于，包括：

预处理模块，用于确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；

检测处理模块，用于实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；

查询处理模块，用于查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值；

计算处理模块，用于计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差，并确定所述温度差是否大于第一预设温度；

性能确定模块，用于当所述温度差大于所述第一预设温度时，确定所述目标电子元件发生性能衰减。

6.根据权利要求5中所述的装置，其特征在于，

进一步包括：关联设备检测模块；其中，

所述关联设备检测模块，用于当所述温度差大于所述第一预设温度时，检测所述目标电子元件所对应的各个关联设备的运行参数是否在每一个所述关联设备所分别对应的预设阈值范围之内，如果是，则触发所述性能确定模块；

则，所述性能确定模块，用于在所述关联设备检测模块的触发下确定所述目标电子元件发生性能衰减。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，

进一步包括：降频检测模块、满载检测模块、环温检测模块；其中，

所述降频检测模块，用于检测所述目标电子元件是否发生自动降频，如果是，则触发所述满载检测模块；

则，

所述满载检测模块，用于在所述降频检测模块的触发下检测所述当前工作频率是否大于额定工作频率，如果否，则触发所述环温检测模块；

所述环温检测模块，用于在所述满载检测模块的触发下检测所述电子设备所对应的环境温度是否大于第二预设温度，如果是，则触发所述查询处理模块，否则触发所述性能确定模块；

所述性能确定模块，进一步用于在所述环温检测模块的触发下确定所述电子元件发生性能衰减。