[发明专利]用于减少衍射效应的互补孔径

说明书

提供了一种方法，该方法包括：确定用于利用成像设备执行测量的第一组孔径图案和第二组孔径图案，使得对于第一组孔径图案中的每个孔径图案，在第二组孔径图案中存在互补孔径图案，其中成像设备包括传感器和孔径组件，孔径组件具有多个孔径元件；通过以下针对第一组和第二组中的每个相应孔径图案执行测量：根据该相应孔径图案，改变与多个孔径元件中的一个或多个孔径元件相关联的属性；并且处理所执行的测量以提取关于图像的信息。

技术领域

本发明总体涉及成像系统，并且更具体地涉及减少计算成像系统中的衍射效应。

背景技术

该部分意在提供下文公开的本发明的背景或上下文。本文中的描述可以包括能够获得的概念，但不一定是先前已经构思、实现或描述的概念。因此，除非本文中另有明确说明，否则本部分中描述的内容不是本申请中的描述的现有技术，也不因被包括在本部分中而被认为是现有技术。

压缩成像是一种利用传感器和孔径的成像技术。孔径对来自物体的光进行调制以传递到传感器，传感器收集光并且测量强度。通常使用可以被编程以产生不同图案的孔径来进行上述测量。当孔径的可编程元件变小时，与图像的分辨率增加的情况一样，孔径会引起显著的衍射，这会降低图像质量。传统上，衍射效应限制了在图像质量差到不可用之前孔径元件可以有多小。这样的限制被称为衍射极限。

发明内容

本部分意在包括示例，而无意成为限制。

在实施例的示例中，公开了一种方法，该方法包括：确定用于利用成像设备执行测量的第一组孔径图案和第二组孔径图案，使得对于第一组孔径图案中的每个孔径图案，在第二组孔图案中存在互补孔图案，其中成像设备包括传感器和孔径组件，孔径组件具有多个孔径元件；通过以下来针对第一组和第二组中的每个相应孔径图案执行测量：根据该相应孔径图案，改变与多个孔径元件中的一个或多个孔径元件相关联的属性；以及处理所执行的测量以提取关于图像的信息。

实施例的另一示例包括一种计算机程序，该计算机程序包括用于在计算机程序在处理器上运行时执行前一段落中的方法的代码。根据该段落的计算机程序，其中计算机程序是一种包括计算机可读介质的计算机程序产品，该计算机可读介质承载其中包含的用于与计算机一起使用的计算机程序代码。

一种装置的示例包括一个或多个处理器和包括计算机程序代码的一个或多个存储器。一个或多个存储器和计算机程序代码被配置为与一个或多个处理器一起使该装置至少执行以下操作：确定用于利用成像设备执行测量的第一组孔径图案和第二组孔径图案，使得对于第一组孔径图案中的每个孔径图案，在第二组孔径图案中存在互补孔径图案，其中成像设备包括传感器和孔径组件，孔径组件具有多个孔径元件；通过以下来针对第一组和第二组中的每个相应孔径图案执行测量：根据该相应孔径图案，改变与多个孔径元件中的一个或多个孔径元件相关联的属性；以及处理所执行的测量以提取关于图像的信息。

一种装置的示例包括：用于确定用于利用成像设备执行测量的第一组孔径图案和第二组孔径图案的部件，使得对于第一组孔径图案中的每个孔径图案，在第二组孔径图案中存在互补孔径图案，其中成像设备包括传感器和孔径组件，孔径组件具有多个孔径元件；用于通过以下来针对第一组和第二组中的每个相应孔径图案执行测量的部件：根据该相应孔径图案，改变与多个孔径元件中的一个或多个孔径元件相关联的属性；以及用于处理所执行的测量以提取关于图像的信息的部件。

附图说明

在附图中：

图1是示例性实施例可以在其中被实践的一种可能和非限制性示例性系统的框图；

图2是示出执行测量以捕获场景的示例计算成像系统和所得到的数字图像的图；

图3是示出根据示例性实施例的用于压缩测量的计算成像系统的孔径组件所使用的不同图案的示例的图；

图4是示出根据示例性实施例的从场景上的一个点开始、穿过孔径组件上的一个点并且终止于传感器的示例光线的图；