[发明专利]极耳错位调整方法、系统、电子设备和存储介质有效
申请号: | 201811395903.9 | 申请日: | 2018-11-21 |
公开(公告)号: | CN109524704B | 公开(公告)日: | 2021-06-08 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 无锡先导智能装备股份有限公司 |
主分类号: | H01M10/04 | 分类号: | H01M10/04 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 葛松生 |
地址: | 214000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 错位 调整 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种极耳错位调整方法,其特征在于,包括:
获取当前极耳组中各个极耳的极耳错位量;
基于所述极耳错位量按照统计学方法计算出错位调整值;
根据所述错位调整值对下一极耳组中的极耳进行调整;
极片上具有多个所述极耳组,所述极耳组中包括预设个数的极耳,默认所述极耳组中的第一极耳与标准电池中第一极耳的标准位置相一致;
所述获取当前极耳组中各个极耳的极耳错位量,包括,重复执行以下处理,直至所述当前极耳组中除所述第一极耳外的极耳都被遍历,即i≥2:
当极耳传感器检测到第i个极耳时,记录此时所述极片所在的第一位置;
在卷针转动到与所述标准电池的第i个极耳对应的卷针角度相同的角度时,记录此时所述极片所在的第二位置;
将所述第二位置与所述第一位置的差值作为第i个极耳错位量;
所述按照统计学方法计算出所述错位调整值包括:
按照统计学方法计算出所述极耳错位量的标准差;
通过将所述标准差与预设一致性阀值进行比对,根据比对结果判断所述极耳错位量是否处于一致性合格状态;
若处于一致性合格状态,则计算所述错位调整值。
2.根据权利要求1所述的极耳错位调整方法,其特征在于,所述根据所述错位调整值对下一极耳组中的极耳进行调整包括:
根据所述错位调整值对极片的厚度进行调整;
根据所述错位调整值对极片的张力进行调整;
根据所述错位调整值对所述极耳的切割间距进行调整。
3.根据权利要求1所述的极耳错位调整方法,其特征在于,所述错位调整值包括加权平均值、调和平均值、几何平均值、修剪平均值和中位值中的一种或多种。
4.根据权利要求1所述的极耳错位调整方法,其特征在于,所述根据所述错位调整值对下一极耳组中的极耳进行调整包括:
判断所述标准差是否超过预设值;
当所述标准差超过所述预设值时,根据所述错位调整值对所述下一极耳组进行调整。
5.一种极耳错位调整系统,其特征在于,包括:过辊、压辊、测长单元、卷针、卷针测量单元、控制器和极耳传感器,所述测长单元与所述过辊相连接,所述卷针与所述卷针测量单元相连接,所述控制器分别与所述测长单元、所述极耳传感器和所述卷针测量单元相连接,极片设置在所述过辊与所述压辊之间,所述过辊带动所述极片向所述卷针方向行进,所述极耳传感器设置在所述卷针的上游;
通过所述测长单元、所述卷针、所述卷针测量单元、所述控制器和所述极耳传感器获取当前极耳组中各个极耳的极耳错位量;
所述控制器还用于基于所述极耳错位量按照统计学方法计算出错位调整值;根据所述错位调整值对下一极耳组中的极耳进行调整;
所述极片上设置有多个所述极耳组,所述极耳组中包括预设个数的极耳,默认所述极耳组中的第一极耳与标准电池中第一极耳的标准位置相一致;
所述测长单元、所述卷针、所述卷针测量单元、所述控制器和所述极耳传感器还用于重复执行以下处理,直至所述当前极耳组中除所述第一极耳外的极耳都被遍历,即i≥2:
当极耳传感器检测到第i个极耳时,所述控制器控制所述测长单元记录此时所述极片所在的第一位置;在所述卷针测量单元检测到所述卷针转动到与标准电池的第i个极耳对应的卷针角度相同的角度时,所述控制器控制所述测长单元记录此时所述极片所在的第二位置,并将所述第二位置与所述第一位置的差值作为第i个极耳错位量;
所述控制器还用于按照统计学方法计算出所述极耳错位量的标准差;通过将所述标准差与预设一致性阀值进行比对,根据比对结果判断所述极耳错位量是否处于一致性合格状态;若处于一致性合格状态,则计算所述错位调整值。
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