[发明专利]相似版图判断方法在审

专利信息
申请号: 201811396599.X 申请日: 2018-11-22
公开(公告)号: CN109460623A 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 吴青;陈翰;张辰明;孟鸿林 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G06K9/62
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 焦天雷
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 子区域 图形标识 版图区域 版图图形 分析 预设 矩阵 图形识别 版图几何中心 图形判断 准确率
【权利要求书】:

1.一种相似版图判断方法,用于OPC工艺之前的相似版图分析,其特征在于,包括以下步骤:

1)以待分析版图几何中心点为起点向预设方向外扩展预设长度,形成待分析版图区域;

2)将待分析版图区域在预设方向分别平均分成n个子区域,形成n×n矩阵,n≥4;

3)将位于所述矩阵4个角落的子区域命名为非必要子区域;

4)对图形全部位于非必要子区域内的版图图形添加非必要图形标识;

5)将待分析版图区域内的其他版图图形添加必要图形标识;

6)若待分析版图中具有必要图形标识的版图图形一致,则判断待分析版图相似;否则,则判断待分析版图不相似。

2.如权利要求1所述的相似版图判断方法,其特征在于:所述预设方向是水平和垂直方向。

3.如权利要求1所述的相似版图判断方法,其特征在于:所述预设长度是2倍Pitch,Pitch=LW+LS,LW是图形设计线宽,LS是图形设计线间距。

4.如权利要求1所述的相似版图判断方法,其特征在于:所述预设长度大于2倍Pitch,Pitch=LW+LS,LW是图形设计线宽,LS是图形设计线间距。

5.如权利要求4所述的相似版图判断方法,其特征在于:执行步骤2)时,以1倍Pitch作为待分析版图区域的子区域均分长度。

6.如权利要求1所述的相似版图判断方法,其特征在于:所述非必要图形标识和必要图形标识是颜色标识,分别用不同的颜色表示。

7.如权利要求1所述的相似版图判断方法,其特征在于:所述非必要图形标识采用灰色表示,必要图形标识采用绿色表示。

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