[发明专利]一种存储器芯片的检测方法、装置和终端

权利要求书

1.一种存储器芯片的检测方法，其特征在于，包括：

设置攻击模式和随机攻击参数；

根据所述攻击模式和所述随机攻击参数生成随机攻击命令；

任选奇数条字线形成一组字线，根据所述随机攻击命令对每组字线中的位于中间位置的字线进行攻击；

对受到攻击后的所述位于中间位置的字线的相邻字线或间隔字线进行检测，生成检测结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，设置随机攻击参数包括：

选择所述存储器芯片的容量；

根据所述存储器 芯片的容量选择攻击范围，所述攻击范围至少包括行地址范围和列地址范围中的其中一种；以及

设置攻击次数。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对受到攻击后的所述位于中间位置的字线的相邻字线或间隔字线进行检测，生成检测结果，包括：

对被攻击字线的行地址及其相邻字线的行地址进行检测；

若所述相邻字线的行地址与所述被攻击字线的行地址不同，则对所述存储器芯片攻击完成。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对受到攻击后的所述位于中间位置的字线的相邻字线或间隔字线进行检测，生成检测结果，包括：

对被攻击字线的行地址及其间隔字线的行地址进行检测；

若所述间隔字线的行地址与所述被攻击字线的行地址不同，则对所述存储器芯片完成攻击。

5.一种存储器芯片的检测装置，其特征在于，包括：

攻击设置模块，用于设置攻击模式和随机攻击参数；

攻击命令生成模块，用于根据所述攻击模式和所述随机攻击参数生成随机攻击命令；

随机攻击模块，用于任选奇数条字线形成一组字线，根据所述随机攻击命令对每组字线中的位于中间位置的字线进行攻击；

攻击检测模块，用于对受到攻击后的位于中间位置的字线的相邻字线或间隔字线进行检测，生成检测结果。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述攻击设置模块包括：

芯片容量设置单元，用于选择所述存储器芯片的容量；

攻击范围设置单元，用于根据所述存储器 芯片的容量选择攻击范围，所述攻击范围至少包括行地址范围和列地址范围中的其中一种；

攻击次数设置单元，用于设置攻击次数。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述攻击检测模块包括：

对被攻击字线的行地址及其相邻字线的行地址进行检测；

若所述相邻字线的行地址与所述被攻击字线的行地址不同，则对所述存储器芯片完成攻击。

8.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述攻击检测模块包括：

对被攻击字线的行地址及其间隔字线的行地址进行检测；

若所述相邻字线的行地址与所述被攻击字线的行地址不同，则对所述存储器芯片完成攻击。

9.一种随机攻击存储器芯片的检测终端，其特征在于，包括如权利要求5-8任一项所述的装置。