[发明专利]一种存储器芯片的检测方法、装置和终端

说明书

本发明提供了一种存储器芯片的检测方法、装置和终端，所述方法包括：设置攻击模式和随机攻击参数；根据攻击模式和随机攻击参数生成随机攻击命令；根据随机攻击命令对存储器芯片进行攻击；对受到攻击后的存储器芯片进行检测，生成检测结果。能够根据需要模拟各种攻击方式，便于针对不同的攻击方式来对存储器芯片进行测试。由于攻击时能够对整个存储器芯片的随机化的任一存储单元进行攻击，因此，也能够针对整个存储器芯片进行检测。

技术领域

本发明涉及存储器芯片测试技术领域，具体涉及一种存储器芯片的检测方法、装置和终端。

背景技术

随着存储器芯片的制造精度越来越高，元器件在物理层面上越来越小。然而，虽然在一块芯片存储器中能够集成更大的内存容量，但是内存单元之间会发生电磁干扰。这一情况使得对内存的单个区域进行的读写有可能干扰到邻近的区域，导致电流流入或流出邻近的内存单元。如果反复进行大量读写，有可能改变邻近内存单元的内容，使得0变成1，或者1变成0。这种现象被称为比特翻转。利用存储芯片的这种性质，对存储芯片进行的攻击，称之为比特翻转攻击。

然而，比特翻转攻击存在很大的随机性和复杂性，需要对一行进行上十万次的打开与关闭动作。一方面，现有的测试方法中很难还原这种攻击方式，导致测试比较困难，测试时间长，测试不精确。另一方面，现有的测试方法无法一次性连续大范围的测试，很难检测整个存储器芯片被攻击时的状态。因此，无法有效验证存储器芯片的物理与设计技术情况。

在背景技术中公开的上述信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此其可能包含没有形成为本领域普通技术人员所知晓的现有技术的信息。

发明内容

本发明提供一种存储器芯片的检测方法、装置和终端，以克服或缓解背景技术中存在的一个或者更多个问题，至少提供一种有益的选择。

作为本发明的一个方面，提供了一种存储器芯片的检测方法，包括：

设置攻击模式和随机攻击参数；

根据所述攻击模式和所述随机攻击参数生成随机攻击命令；

根据所述随机攻击命令对所述存储器芯片进行攻击；

对受到攻击后的所述存储器芯片进行检测，生成检测结果。

在一种实施方式中，设置随机攻击参数包括：

选择所述存储器芯片的容量；

根据所述存储芯片的容量选择攻击范围，所述攻击范围至少包括行地址范围和列地址范围中的其中一种；以及

设置攻击次数。

在一种实施方式中，根据所述随机攻击命令对所述存储器芯片进行攻击，包括：

任选奇数条字线形成一组字线，选取每组字线中位于中间位置的字线；

根据所述随机攻击命令对每组位于中间位置的字线进行攻击。

在一种实施方式中，对受到攻击后的所述存储器芯片进行检测，生成检测结果，包括：

对被攻击字线的行地址及其相邻字线的行地址进行检测；

若所述相邻字线的行地址与所述被攻击字线的行地址不同，则对所述存储器芯片形成攻击，且对所述相邻字线产生影响。

在一种实施方式中，对受到攻击后的所述存储器芯片进行检测，生成检测结果，包括：

对被攻击字线的行地址及其间隔字线的行地址进行检测；

若所述相邻字线的行地址与所述被攻击字线的行地址不同，则对所述存储器芯片攻击完成。

本发明还提供了一种存储器芯片的检测装置，包括：