[发明专利]涉及冗余区域的修复的半导体装置

权利要求书

1.一种半导体装置，包括：

熔丝阵列；

字线解码器，其被配置为基于存储体选择地址信号来选择所述熔丝阵列的字线；

位线解码器，其被配置为基于故障行地址信号来选择所述熔丝阵列的位线；

存储体信息比较电路，其被配置为通过将故障存储体地址信号与所述存储体选择地址信号进行比较来产生断裂使能信号；以及

断裂电路，其被配置为基于所述断裂使能信号来使耦接到选中字线和选中位线的熔丝断裂。

2.如权利要求1所述的半导体装置，其中，当所述故障存储体地址信号和所述存储体选择地址信号彼此对应时，所述存储体信息比较电路使能所述断裂使能信号，而当所述故障存储体地址信号和所述存储体选择地址信号彼此不对应时，所述存储体信息比较电路禁止所述断裂使能信号。

3.如权利要求1所述的半导体装置，还包括：存储体地址计数器，其被配置为在每个预定时间内顺序地改变所述存储体选择地址信号的码值。

4.如权利要求1所述的半导体装置，还包括：

故障行锁存器，其被配置为锁存所述故障行地址信号。

5.如权利要求1所述的半导体装置，还包括：

故障存储体锁存器，其被配置为锁存所述故障存储体地址信号。

6.如权利要求1所述的半导体装置，还包括：列开关电路，其被配置为将所述选中位线耦接到所述断裂电路。

7.一种半导体装置，包括：

多个存储体，每个存储体包括正常区域和冗余区域；

测试电路，其被配置为测试所述冗余区域以检测存储单元中何时发生缺陷，并且基于所述缺陷的检测来产生故障行地址信号和故障存储体地址信号；以及

冗余修复电路，其被配置为基于所述故障行地址信号和存储体选择地址信号来选择熔丝阵列的熔丝，并且当所述故障存储体地址信号对应于所述存储体选择地址信号时使选中熔丝断裂。

8.如权利要求7所述的半导体装置，其中，所述冗余修复电路包括：

字线解码器，其被配置为基于所述存储体选择地址信号来选择所述熔丝阵列的字线；

位线解码器，其被配置为基于所述故障行地址信号来选择所述熔丝阵列的位线；

存储体信息比较电路，其被配置为通过将所述故障存储体地址信号与所述存储体选择地址信号进行比较来产生断裂使能信号；以及

断裂电路，其被配置为基于所述断裂使能信号来使耦接到选中字线和选中位线的熔丝断裂。

9.如权利要求8所述的半导体装置，其中，当所述故障存储体地址信号和所述存储体选择地址信号彼此对应时，所述存储体信息比较电路使能所述断裂使能信号，而当所述故障存储体地址信号和所述存储体选择地址信号彼此不对应时，所述存储体信息比较电路禁止所述断裂使能信号。

10.如权利要求8所述的半导体装置，还包括：存储体地址计数器，其被配置为在每个预定时间内顺序地改变所述存储体选择地址信号的码值。

11.如权利要求8所述的半导体装置，还包括：

故障行锁存器，其被配置为锁存所述故障行地址信号。

12.如权利要求8所述的半导体装置，还包括：

故障存储体锁存器，其被配置为锁存所述故障存储体地址信号。

13.如权利要求8所述的半导体装置，还包括：列开关电路，其被配置为将选中位线耦接到所述断裂电路。