[发明专利]一种电子纸驱动波形自动调试方法

权利要求书

1.一种电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：提供一上位机和一主控板，所述上位机与主控板之间通过通信连接，所述调试方法包括如下步骤：

S1、所述上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址，在所述波形库地址中选择波形；

S2、所述主控板接收波形及目标参数；判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组；

S3、根据黑白模组或三色模组，使用波形驱动电子纸模组进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试，并记录相应数据；

S4、主控板上传测试到的光学值，上位机接收光学值数据进行存储，并显示在列表中；

S5、判断波形是否测试完毕，若是，则结束；若不是，则返回步骤S1；

若测试的电子纸膜片为黑白模组，其测试步骤S3如下：

S31、对比度测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；

S32、残影测试：控制步进电机移动光学测试仪，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成四个测试区，所述四个测试区为黑-黑、黑-白、白-黑、白-白，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；

S33、侵蚀测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组形成黑白相间测试区，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据。

2.根据权利要求1所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：若测试的电子纸膜片为三色模组，其测试步骤S3如下：

S34、对比度测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全红，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；

S35、残影测试：控制步进电机移动光学测试仪，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成九个测试区，所述九个测试区为黑-黑、黑-白、黑-红、白-黑、白-白、白-红、红-黑、红-白、红-红，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；

S36、侵蚀测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组形成白红相间、黑红相间、黑白相间测试区，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据。

3.根据权利要求2所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：所述调试方法为单步测试，在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址；在步骤S2中主控板接收标准初始波形；在步骤S3中所述对比度测试、残影测试和侵蚀测试同步进行。

4.根据权利要求2所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：所述调试方法为优选测试，在步骤S1中上位机在波形库地址中选择全部波形；在步骤S2中主控板随机接收一组波形；在步骤S3中先进行对比度测试，再进行残影测试，最后再进行侵蚀测试；在步骤S5中，波形测试完毕后，将所有测试波形所得的光学数据与设置值对比，选出最接近的三组。

5.根据权利要求4所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：所述调试方法为自动测试，在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址；在步骤S2中主控板接收标准初始波形；在步骤S3中，还包括一步骤S311：所述上位机根据优选测试的算法，重新生成波形进行测试。

6.根据权利要求5所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：在步骤S3中，先进行对比度测试，再进行残影测试，最后再进行侵蚀测试；在进行对比度测试、残影测试或侵蚀测试时，先进行步骤S311，每次测试结束后，上传测试到的光学值，执行步骤S312：上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求，若是，则进行下一步；若不是，则重新进行测试。