[发明专利]一种电子纸驱动波形自动调试方法

说明书

本发明公开了一种电子纸驱动波形自动调试方法，提供一上位机和一主控板，上位机与主控板之间通过通信连接，调试方法包括如下步骤：S1、上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址，在波形库地址中选择波形；S2、主控板接收波形及目标参数；S3、根据其测试的电子纸膜片是黑白模组或三色模组，使用波形驱动电子纸模组进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试，并记录相应数据；S4、主控板上传测试到的光学值，上位机接收光学值数据进行存储，并显示在列表中；S5、判断波形是否测试完毕，若是，则结束；若不是，则返回步骤S1。本发明通过单步测试、优选测试和自动测试等多种优化算法，提高调试出驱动波形的稳定性，提高品质。

技术领域

本发明涉及电子纸技术领域，特别涉及一种电子纸驱动波形自动调试方法。

背景技术

目前电子纸的驱动波形均由人工调试，由于一个完整的电子纸驱动波形受TFT基板的电特性(gate频率、tft充电率、tft保持电压、source及gate的阻抗及容抗)、电子纸膜片的批次、电子纸的容抗、电子纸的响应速度、驱动IC的驱动方式、驱动电压及电流、电子纸模组的生产工艺(制程结束后电子纸的水分含量)等多因素影响，方法各异，效果无法统一，调试耗时长，浪费人力。

传统的人工调试中，调试者很难把握所有因素，通过自动调试设备将这些因素都做成资源数据库供算法调用，从而高效可靠的调试出稳定的波形。这种检测方法，检验步骤繁多，经常发生部分要求不符合，需反工重测，效率低下，耗费人力资源。为达到相应效果，不同调试员会使用不同的波形结构去实现，导致调试出的波形一致性差，效果一般，无法完全实现目标要求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种电子纸驱动波形自动调试方法，由电脑上位机控制光学测试设备，无人值守，以解决目前调试波形纯人工，效率低，受调试人的因素影响，波形效果稳定性差等问题。

本发明解决上述问题所采用的技术方案为：一种电子纸驱动波形自动调试方法，提供一上位机和一主控板，所述上位机与主控板之间通过通信连接，所述调试方法包括如下步骤：

S1、所述上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址，在所述波形库地址中选择波形；

S2、所述主控板接收波形及目标参数；判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组；

S3、根据黑白模组或三色模组，使用波形驱动电子纸模组进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试，并记录相应数据；

S4、主控板上传测试到的光学值，上位机接收光学值数据进行存储，并显示在列表中；

S5、判断波形是否测试完毕，若是，则结束；若不是，则返回步骤S1。

优选的，若测试的电子纸膜片为黑白模组，其测试步骤S3如下：

S31、对比度测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；

S32、残影测试，控制步进电机移动光学测试仪，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成四个测试区，所述四个测试区为黑-黑、黑-白、白-黑、白-白，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；

S33、侵蚀测试，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成黑白相间测试区，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据。

优选的，若测试的电子纸膜片为三色模组，其测试步骤S3如下：

S34、对比度测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全红，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；