[发明专利]时间测量装置及方法在审
申请号: | 201811435173.0 | 申请日: | 2018-11-28 |
公开(公告)号: | CN109450584A | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | 陈庆邦;刘晶;赵旭阳;王绍伟;陆海威 | 申请(专利权)人: | 上海东土远景工业科技有限公司 |
主分类号: | H04J3/06 | 分类号: | H04J3/06;H04L12/26 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 待测设备 主处理器 时间测量电路 时间测量装置 时间偏差 时间信号 时间测量基准 时间信息计算 发送 时间信息 | ||
本发明实施例公开了一种时间测量装置及方法,包括:时间测量电路、FPGA电路、以及主处理器;时间测量电路分别与FPGA电路及至少两个待测设备相连,用于同时获取至少两个待测设备的时间信号,并发送至FPGA电路;FPGA电路与主处理器相连,用于分别从至少两个待测设备的时间信号中提取相应待测设备的时间信息,并发送至主处理器;主处理器,用于根据各待测设备的时间信息计算各待测设备的时间值,并计算各待测设备的时间值相对于基准时间值的偏差时间值,本发明实施例的技术方案,能够基于同一时间测量基准点计算各待测设备的时间偏差,提高待测设备的时间偏差的准确性和可参考性。
技术领域
本发明实施例涉及信号测量领域,尤其涉及一种时间测量装置及方法。
背景技术
随着电力、通讯等行业的自动化水平越来越高,时间同步问题作为这些行业自动化系统的运行基础,得到了越来越多的重视,统一且精确的运行时间是保证系统安全运行以及提高运行水平的重要因素。
目前,各电压等级变电站及调度管理机构一般使用时间测试仪检测设备的偏差时间,其方法为:单次测量一个设备的时间偏差,经过多次测量获取所有设备的时间偏差信息,从而达到对所有设备的运行时间进行监控、警告和调整的目的。
现有技术中,由于外部时间源或者时间测试仪自身的问题,时间测试仪的基准时间可能存在抖动误差,这就可能造成每次测量的基准点不准确,无法对所有待测设备进行高精度的时间管理。
发明内容
本发明实施例提供一种时间测量装置及方法,以实现统一时间测量基准点以及高精度测量时间数据。
第一方面,本发明实施例提供了一种时间测量装置,包括:时间测量电路、FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)电路、以及主处理器;
所述时间测量电路分别与所述FPGA电路及至少两个待测设备相连,用于同时获取至少两个所述待测设备的时间信号,并发送至所述FPGA电路,其中,所述时间测量电路包括至少两路时间测量单元,每路所述时间测量单元均与所述FPGA电路相连,且分别与一个所述待测设备相连,以获取相应待测设备的时间信号;
所述FPGA电路与所述主处理器相连,用于分别从至少两个所述待测设备的时间信号中提取相应待测设备的时间信息,并发送至所述主处理器;
所述主处理器,用于根据各所述待测设备的时间信息计算各所述待测设备的时间值,并计算各所述待测设备的时间值相对于基准时间值的偏差时间值。
第二方面,本发明实施例还提供了一种时间测量方法,包括;
时间测量电路同时获取至少两个待测设备的时间信号,并发送至FPGA电路,其中,所述时间测量电路包括至少两路时间测量单元,每路所述时间测量单元从与其连接的所述待测设备中获取相应的时间信号;
所述FPGA电路分别从至少两个所述待测设备的时间信号中提取相应待测设备的时间信息,并发送至所述主处理器;
所述主处理器根据各所述待测设备的时间信息计算各所述待测设备的时间值,并计算各所述待测设备的时间值相对于基准时间值的偏差时间值。
本发明实施例通过将时间测量电路分别与FPGA电路及至少两个待测设备相连,用于同时获取至少两个所述待测设备的时间信号,并发送至FPGA电路;将FPGA电路与主处理器相连,用于分别从至少两个待测设备的时间信号中提取相应待测设备的时间信息,并发送至主处理器;主处理器用于根据各待测设备的时间信息计算各待测设备的时间值,并计算各待测设备的时间值相对于基准时间值的偏差时间值,从而形成一种时间测量装置,解决了现有技术不能同时测量多个设备的时间偏差,时间测量基准点不统一的问题,能够基于同一时间测量基准点计算各待测设备的时间偏差,提高待测设备的时间偏差的准确性和可参考性。
附图说明
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