[发明专利]一种介质谐振器和介质滤波器有效
申请号: | 201811440173.X | 申请日: | 2013-04-16 |
公开(公告)号: | CN109509942B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 袁本贵;王强 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H01P1/20 | 分类号: | H01P1/20;H01P7/10;H01P11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 介质 谐振器 滤波器 | ||
1.一种介质谐振器,其特征在于,包括实心介质谐振器本体,位于所述实心介质谐振器本体一侧的盲孔,覆盖在所述实心介质谐振器本体和所述盲孔内表面的金属化层,所述盲孔内部包括去金属化缺口,使得所述盲孔内表面未被所述金属化层完全覆盖,所述介质谐振器还包括金属化密封部分,所述金属化密封部分与所述盲孔的开口所在的表面的金属化层相接,所述金属化密封部分与所述去金属化缺口之间具有间隙,所述金属化密封部分的面积大于所述盲孔的开口面的面积。
2.根据权利要求1所述的介质谐振器,其特征在于,所述去金属化缺口的个数为一个或者多个。
3.根据权利要求1所述的介质谐振器,其特征在于,所述去金属化缺口位于所述盲孔的内底部。
4.根据权利要求1所述的介质谐振器,其特征在于,所述去金属化缺口不被所述金属化层覆盖。
5.根据权利要求1所述的介质谐振器,其特征在于,所述金属化层为银或者铜。
6.根据权利要求1所述的介质谐振器,其特征在于,所述介质谐振器的介电常数与以下一项或者多项有关:所述盲孔的深度或所述间隙的宽度。
7.根据权利要求1所述的介质谐振器,其特征在于,所述介质谐振器的谐振频率与以下一项或者多项有关:所述去金属化缺口的面积,所述盲孔的深度或所述间隙的宽度。
8.根据权利要求1所述的介质谐振器,其特征在于,所述盲孔的深度大于1mm。
9.根据权利要求1-8任一项所述的介质谐振器,其特征在于,所述盲孔的横截面为圆形、方形或者不规则图形。
10.一种介质谐振器,其特征在于,包括实心介质谐振器本体,位于所述实心介质谐振器本体一侧的盲孔,覆盖所述实心介质谐振器本体和所述盲孔内表面的金属化层,所述盲孔内部包括去金属化缺口,使得所述盲孔内表面未被所述金属化层完全覆盖,所述介质谐振器还包括金属化密封部分,所述金属化密封部分位于所述盲孔内,所述金属化密封部分与所述盲孔内表面的金属化层相接,所述金属化密封部分与所述去金属化缺口之间具有间隙。
11.根据权利要求10所述的介质谐振器,其特征在于,所述金属化密封部分与所述盲孔的开口面平行或者齐平。
12.根据权利要求10所述的介质谐振器,其特征在于,所述密封部分与所述盲孔的开口面不平行。
13.根据权利要求10所述的介质谐振器,其特征在于,所述介质谐振器的介电常数与以下一项或者多项有关:所述盲孔的深度或所述间隙的宽度。
14.根据权利要求10所述的介质谐振器,其特征在于,所述介质谐振器的谐振频率与以下一项或者多项有关:所述去金属化缺口的面积,所述盲孔的深度或所述间隙的宽度。
15.根据权利要求10-14任一项所述的介质谐振器,其特征在于,所述盲孔的横截面为圆形、方形或者不规则图形。
16.根据权利要求10所述的介质谐振器,其特征在于,所述盲孔的深度大于1mm。
17.一种介质滤波器,其特征在于,所述介质滤波器包括权利要求1-16任一项所述的介质谐振器。
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