[发明专利]EMI测试方法及系统在审
| 申请号： | 201811467390.8 | 申请日： | 2018-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN109375023A | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | 许传停;张坤 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试转盘 采样数据 电子领域 旋转周期 采样 承载 分析 | ||
1.一种EMI测试方法，在测试环境中提供一测试转盘，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
承载有待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期的范围为：3min-10min；
以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试数据进行采样，获取采样数据。
2.根据权利要求1所述的EMI测试方法，其特征在于：还包括：
提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；
判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若是，生成所述待测设备通过测试的消息；若否，生成所述待测设备异常的消息。
3.根据权利要求2所述的EMI测试方法，其特征在于：所述判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，包括：
逐个判断每个所述EMI峰值是否符合相应的标准范围，若所有的EMI峰值均符合相应的标准范围，则生成所述待测设备通过测试的消息；若有至少一个EMI峰值不符合相应的标准范围，则生成所述待测设备异常的消息。
4.根据权利要求2所述的EMI测试方法，其特征在于：所述预设条件为EMI测试参考标准。
5.一种EMI测试系统，在测试环境中提供一测试转盘，其特征在于，所述EMI测试系统包括：
转动单元，用于承载待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期的范围为：3min-10min；
采集单元，用于以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试数据进行采样，获取采样数据。
6.根据权利要求5所述的EMI测试系统，其特征在于，还包括：
提取单元，用于提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；
判断单元，用于判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若符合生成所述待测设备通过测试的消息；若不符合生成所述待测设备异常的消息。
7.根据权利要求6所述的EMI测试系统，其特征在于：所述判断单元用于逐个判断每个所述EMI峰值是否符合相应的标准范围，若所有的EMI峰值均符合相应的标准范围，则生成所述待测设备通过测试的消息；若有至少一个EMI峰值不符合相应的标准范围，则生成所述待测设备异常的消息。
8.根据权利要求6所述的EMI测试系统，其特征在于：所述预设条件为EMI测试参考标准。
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