[发明专利]EMI测试方法及系统

说明书

本发明公开了EMI测试方法及系统，属于电子领域。本发明采用承载有待测设备的测试转盘以3min‑10min的周期旋转，根据测试转盘的旋转周期对待测设备的EMI测试数据进行采样，获取采样数据，从而可获取大量的EMI测试数据，提升了EMI测试数据的准确性，以便于根据获取的大量EMI测试数据对待测设备的EMI性能进行分析。

技术领域

本发明涉及电子领域，尤其涉及一种EMI(Electromagnetic Interference， 电磁干扰)测试方法及系统。

背景技术

目前，电子产品在进行EMI测试时，经常出现在同一个平台同一环境的 多次测试数据不一致，差异在3dB以上，由于数据不一致性，因此无法进行 下一步分析或另外的实验室认证测试，从而影响测试、实验或分析进度。

现有的EMI测试方法一般以实验室EMI转盘的标准转速(如：50秒) 为准进行测试，在较短的采样时间内采集的数据量少(容易遗漏很多数据)， 因此经常会出现在同一个平台同一环境的多次测试数据不一致的情形。

发明内容

针对现有的EMI测试因采集的数据量少导致测试结果不一致的问题，现 提供一种旨在可增加采集的数据量的EMI测试方法及系统。

一种EMI测试方法，在测试环境中提供一测试转盘，所述方法包括下述 步骤：

承载有待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期的范围为： 3min-10min；

以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试数据进行采样， 获取采样数据。

优选的，还包括：

提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；

判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若是，生成所述待测设备通 过测试的消息；若否，生成所述待测设备异常的消息。

优选的，所述判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，包括：

逐个判断每个所述EMI峰值是否符合相应的标准范围，若所有的EMI峰 值均符合相应的标准范围，则生成所述待测设备通过测试的消息；若有至少一 个EMI峰值不符合相应的标准范围，则生成所述待测设备异常的消息。

优选的，所述预设条件为EMI测试参考标准。

本发明还提供了一种EMI测试系统，在测试环境中提供一测试转盘，所 述EMI测试系统包括：

转动单元，用于承载待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期 的范围为：3min-10min；

采集单元，用于以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试 数据进行采样，获取采样数据。

优选的，还包括：

提取单元，用于提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；

判断单元，用于判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若符合生成 所述待测设备通过测试的消息；若不符合生成所述待测设备异常的消息。

优选的，所述判断单元用于逐个判断每个所述EMI峰值是否符合相应的 标准范围，若所有的EMI峰值均符合相应的标准范围，则生成所述待测设备 通过测试的消息；若有至少一个EMI峰值不符合相应的标准范围，则生成所 述待测设备异常的消息。

优选的，所述预设条件为EMI测试参考标准。

上述技术方案的有益效果：