[发明专利]珩磨孔的检测装置有效
申请号: | 201811484205.6 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN109489590B | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 祝锡晶 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27;G01B11/12;G01B11/02;G01B11/22;G01S17/08;G01B11/30;G01N21/88;G01N21/90 |
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地址: | 030051 山西省太原市*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 珩磨孔 检测 装置 | ||
1.一种珩磨孔的检测装置,其特征在于:该检测装置包括孔径自适应部分、驱动部分、检测部分、运算显示部分,所述的检测部分包括直线度检测组件、直径检测组件、槽检测组件、内孔观察组件、粗糙度检测组件,或者所述的检测部分只包括直线度检测组件、直径检测组件、槽检测组件、内孔观察组件、粗糙度检测组件中的任意一种、两种、三种、四种,其特征在于:孔径自适应部分位于所珩磨的孔内,弹性套是空心零件,其两端与珩磨孔的内壁接触,在弹性套的两端分别加工有锥孔和多条槽,锥孔的一端与前锥体配合,另一端与后锥体配合,压紧螺母压迫弹簧,弹簧一端作用于前锥体,弹簧另一端作用于压紧螺母,使压紧螺母拉动连接套,连接套作用于后锥体;拉杆与前圆盘相连,前圆盘、后圆盘相连,后圆盘通过万向节与前盖相连,拉杆与孔壁接触部分设置有软带;外激光器发出的激光照射在内光敏传感器上,外激光器固定于球体,球体由后半球座、前半球座支撑,在调整过程中,球体可活动,调整完毕后,球体及外激光器静止;后半球座、前半球座接触球体,当压紧手柄作用于后半球座时,激光光斑始终落在内光敏传感器上,光斑信息传输至运算显示部分;支座固定于工作台,其上安装外光敏传感器,内激光器固定于弹性套,所发出的激光照射在外光敏传感器上,光斑信息传输至运算显示部分;当珩磨孔的直径变大时,弹性套膨胀,内激光器随之远离珩磨孔的轴线;当珩磨孔的直径变小时,弹性套收缩,内激光器随之靠近珩磨孔的轴线;激光测距仪固定于后锥体或前锥体上,激光沿珩磨孔半径方向照射,光源至槽底的距离减去与光源至孔壁距离为槽的深度,显示于运算显示部分;前圆盘上固定有内窥镜,靠近内窥镜处安装有后视镜,通过内窥镜见到位于内窥镜前方的内孔表面;内窥镜后方的内孔表面成像于后视镜内,后视镜和粗糙度仪的读数位于内窥镜的视野范围以内;激光测距仪测得的光源至槽底的距离、激光至孔壁的距离传输至运算显示部分,获得波形图,由波形图得到的槽的宽度显示于运算显示部分。
2.根据权利要求1所述的珩磨孔的检测装置,其特征在于:前后两个弹性圈分别卡在弹性套的两个环槽内;粗糙度仪的读数传输至运算显示器;前盖所受到的驱动力,其作用方向沿珩磨孔轴线方向,其作用点在珩磨孔的轴线上;前半球座固定于工作台上,后半球座、前半球座的对开的接缝位于竖直平面内。
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