[发明专利]波形显示装置及历史波形统计方法有效
申请号: | 201811487534.6 | 申请日: | 2018-12-06 |
公开(公告)号: | CN109765411B | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 周立功;杨炯 | 申请(专利权)人: | 广州致远电子有限公司 |
主分类号: | G01R13/02 | 分类号: | G01R13/02 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 510000 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 波形 显示装置 历史 统计 方法 | ||
1.一种波形显示装置,其特征在于,包括第一处理单元和第二处理单元,所述第一处理单元包括参数测量模块,所述第二处理单元包括历史测量统计模块和波形显示模块,
其中,所述参数测量模块,用于对位于历史测量范围的多个波形帧数据的波形参数进行测量,并得到多个所述波形帧数据的参数测量结果;
所述历史测量统计模块与所述参数测量模块连接,用于获取历史统计指令,并根据所述历史统计指令,从所述参数测量模块获取并统计位于所述历史测量范围内的多个所述波形帧数据的参数测量结果,生成统计列表;
所述波形显示模块与所述历史测量统计模块连接,用于显示所述历史测量统计模块生成的所述统计列表,并检测用户基于所述统计列表触发的查看指令,根据所述查看指令调取与所述查看指令对应的待查看的波形帧数据,并显示所述待查看的波形帧数据的波形;
所述历史测量统计模块包括指令获取模块和统计模块,其中,所述指令获取模块用于获取历史统计指令,所述历史统计指令包含目标信号采集通道和目标波形参数;
所述统计模块用于基于预设的历史测量范围和所述历史统计指令,对位于所述历史测量范围内的多个波形帧数据的参数测量结果进行统计得到统计结果,并根据所述统计结果生成统计列表。
2.如权利要求1所述的波形显示装置,其特征在于,
所述指令获取模块还用于接收排序指令,所述排序指令包括基准波形参数、所述基准波形参数的基准统计项以及排序方式;
所述统计模块,还用于基于所述统计结果,将多个波形帧数据的与所述基准波形参数对应的统计结果以所述基准统计项为排序基准按照所述排序方式生成统计列表。
3.如权利要求1或2所述的波形显示装置,其特征在于,所述第二处理单元还包括历史波形记录模块,所述第一处理单元还包括采集存储模块和数据加载模块,
其中,所述历史波形记录模块用于采集原始数据,并以帧为单位存储所述原始数据得到若干波形帧数据;
所述采集存储模块,用于当所述历史测量统计模块获取到历史统计指令时,从所述历史波形记录模块中逐帧获取与预设的历史测量范围对应的波形帧数据;
所述数据加载模块与所述采集存储模块和所述参数测量模块连接,用于从所述采集存储模块中加载所述波形帧数据并发送给所述参数测量模块。
4.如权利要求3所述的波形显示装置,其特征在于,所述第一处理单元还包括波形搜索模块,所述波形搜索模块包括类型搜索模块和结果缓存模块,
其中,所述历史测量统计模块还用于检测基于所述待查看的波形帧数据的波形触发的搜索指令,所述搜索指令包括待搜索的波形参数和与所述待搜索的波形参数对应的搜索条件;
所述类型搜索模块与所述历史测量统计模块和参数测量模块连接,用于根据所述搜索指令从所述参数测量模块中获取所述待搜索的波形参数的参数测量结果,并基于所述参数测量结果和所述搜索条件得到搜索结果;
所述结果缓存模块与所述类型搜索模块连接,用于缓存所述搜索结果;
所述历史测量统计模块与所述结果缓存模块连接,用于从所述结果缓存模块中获取所述搜索结果,并用于根据所述搜索结果生成搜索波形区间;
所述波形显示模块用于显示所述搜索波形区间。
5.一种历史波形统计方法,应用于终端设备,所述终端设备包括第一处理器和第二处理器,其特征在于,所述历史波形统计方法包括:
第二处理器获取历史统计指令;
第二处理器基于历史统计指令从所述第一处理器中获取位于预设的历史测量范围内的多个波形帧数据的波形参数的参数测量结果,生成统计列表并显示;
第二处理器检测用户基于所述统计列表触发的查看指令,根据所述查看指令调取与所述查看指令对应的待查看的波形帧数据,并显示所述待查看的波形帧数据的波形;
所述历史统计指令包括目标信号采集通道和目标波形参数,所述第二处理器基于历史统计指令从所述第一处理器中获取位于预设的历史测量范围内的多个波形帧数据的波形参数的参数测量结果,生成统计列表并显示,包括:
第二处理器确定源于所述目标信号采集通道且处于预设的历史测量范围内的多个波形帧数据,统计多个所述波形帧数据的所述目标波形参数的参数测量结果,并得到统计结果;
第二处理器根据所述统计结果,生成统计列表并显示。
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