[发明专利]波形显示装置及历史波形统计方法

说明书

本发明适用于数据测量与处理技术领域，提供了波形显示装置及历史波形统计方法，包括：第一处理单元和第二处理单元，第一处理单元包括参数测量模块，第二处理单元包括历史测量统计模块和波形显示模块。参数测量模块，用于测量波形帧数据的波形参数得到参数测量结果；历史测量统计模块用于从参数测量模块获取并统计位于历史测量范围内的多个波形帧数据的参数测量结果生成统计列表；波形显示模块用于显示统计列表，并根据查看指令调取并显示与查看指令对应的待查看的波形帧数据的波形。本发明的技术方案结合两个处理单元，能够加快运算处理速度，同时方便查看历史波形参数测量结果，也便于快速查找出异常数据并查看异常波形。

技术领域

本发明属于数据测量与处理技术领域，尤其涉及波形显示装置及历史波形统计方法。

背景技术

随着电子设备的日益复杂化，设计工程团队需要更好的工具来记录、分析和可视化波形数据及测量统计数据。大部分行业测量测试仪器都提供波形电压参数/幅度参数和时间参数的自动测量功能，该测量功能通常针对仪器内存中捕获的单帧屏幕波形，通过多次采集可以得到测量统计数据(当前值、最大值、最小值、样本数、平均值和标准差)，但一般只能得到历史所有帧最终的测量统计结果，不能独立详细查看每帧波形的测量统计结果，也不能仪器屏幕中显示特定测量统计数据的波形。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了波形显示装置及历史波形统计方法，以解决现有技术中不能对历史的单帧数据进行操作的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种波形显示装置，包括第一处理单元和第二处理单元，所述第一处理单元包括参数测量模块，所述第二处理单元包括历史测量统计模块和波形显示模块，

其中，所述参数测量模块，用于对位于历史测量范围的多个波形帧数据的波形参数进行测量，并得到多个所述波形帧数据的参数测量结果；

所述历史测量统计模块与所述参数测量模块连接，用于获取历史统计指令，并根据所述历史统计指令，从所述参数测量模块获取并统计位于所述历史测量范围内的多个所述波形帧数据的参数测量结果，生成统计列表；

所述波形显示模块与所述历史测量统计模块连接，用于显示所述历史测量统计模块生成的所述统计列表，并检测用户基于所述统计列表触发的查看指令，根据所述查看指令调取与所述查看指令对应的待查看的波形帧数据，并显示所述待查看的波形帧数据的波形。

本发明实施例的第二方面提供了一种历史波形统计方法，应用于波形显示装置，所述波形显示装置包括第一处理器和第二处理器，其特征在于，包括：

第二处理器获取历史统计指令；

第二处理器基于历史统计指令从所述第一处理器中获取位于预设的历史测量范围内的多个波形帧数据的波形参数的参数测量结果，生成统计列表并显示；

第二处理器检测用户基于所述统计列表触发的查看指令，根据所述查看指令调取与所述查看指令对应的待查看的波形帧数据，并显示所述待查看的波形和参数测量结果。

上本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：

本发明中，通过设置第一处理单元和第二处理单元，第一处理单元负责波形参数的测量，第二处理单元负责波形参数的统计和波形的显示，相比单纯的采用一个处理单元，能够加快运算处理速度。同时，本发明的历史测量统计模块能够基于参数测量模块对历史的波形帧数据的波形参数的测量结果进行统计，并生成统计列表显示出来，便于用户统一查看历史的波形帧数据的波形参数测量结果。此外，本发明的技术方案中还能够接收基于统计列表的查看指令，并显示与查看指令对应的待查看的波形帧数据的波形和参数测量结果，实现了历史的单帧数据的查看，也便于用户基于统计列表快速查找出异常数据并查看异常波形。

附图说明